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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>透射電子顯微鏡(透射電鏡/TEM)> Helios 5 Hydra DualBeam

Helios 5 Hydra DualBeam

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2024/8/28 14:02:41
  • 訪問次數(shù) 706
產(chǎn)品標簽

TEM透射電鏡Glacios冷凍200kV

聯(lián)系方式:張怡玲查看聯(lián)系方式

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!


FEI公司,,2016年被賽默飛世爾科技收購,成為賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析(MSD) 電鏡事業(yè)部,,是顯微鏡和微量分析解決方案的創(chuàng)新者和供應商,。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,,結(jié)合先進的軟件套件,,運用廣泛的樣本類型,,通過將高分辨率成像與物理、元素,、化學和電學分析相結(jié)合,,使客戶的問題變成有效可用的數(shù)據(jù)。

掃描電子顯微鏡,,雙束電鏡,,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,,X射線光電子能譜儀,,三維可視化軟件

價格區(qū)間 面議 儀器種類 熱場發(fā)射
應用領(lǐng)域 環(huán)保,化工

Helios 5 Hydra DualBeam

具有多個離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查

Helios 5 Hydra DualBeam主要特點

應用空間廣泛

離子源可提供以下四種快速,、可切換離子種類,,應用空間最為廣泛:Xe、Ar,、O,、N

高通量和高質(zhì)量

使用下一代 2.5 μA 等離子 FIB 色譜柱進行高通量、高質(zhì)量和統(tǒng)計學相關(guān)的 3D 表征,、交叉切片和微加工,。

先進的自動化

使用選配的 AutoTEM 5 軟件,以最快速輕松的方式實現(xiàn)自動化多點原位和非原位 TEM 樣品制備以及交叉切片

高質(zhì)量樣品制備

由于采用新型 PFIB 色譜柱,,可實現(xiàn) 500 V 最終拋光以及在所有操作條件下均可提供出色的性能,,可以用氙、氬或氧進行高質(zhì)量無鎵 TEM 和 APT 樣品制備,。

納米級實現(xiàn)周期短

借助 SmartAlign 和 FLASH 技術(shù),,任何經(jīng)驗水平的用戶都可以最短時間獲得納米級信息

完整的樣品信息

可通過多達六個集成在色譜柱內(nèi)和透鏡下的集成探頭獲得清晰、精確且無電荷對比度的最完整的樣品信息

電子和離子束誘導沉積和蝕刻

通過選配的 Thermo Scientific MultiChem 或 GIS 氣輸送系統(tǒng),,在 DualBeam 系統(tǒng)上實現(xiàn)的電子和離子束誘導沉積和蝕刻功能,。

精確的樣品導航

借助 150 mm 壓電載物臺的高穩(wěn)定性和準確性或 110 mm 載物臺的靈活性以及選配的腔室內(nèi) Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機,可根據(jù)具體應用需求進行定制,。

無偽影成像

基于集成的樣品清潔度管理和專用成像模式,,例如 SmartScan 和 DCFI 模式


性能數(shù)據(jù)


Helios 5 Hydra CX DualBeamHelios 5 Hydra UX DualBeam
電子束分辨率
  • 在最佳 WD:

    • 1 kV 時 0.7 nm

    • 500 V (ICD) 時 1.0 nm

  • 在重合點:

    • 15 kV 時 0.6 nm

    • 1 kV 時 1.2 nm

電子束參數(shù)空間
  • 電子束電流范圍:在所有加速電壓下 0.8 pA 至 100 nA

  • 加速電壓范圍:350 V – 30 kV

  • 著陸能量范圍:20* eV – 30 keV

  • 最大水平射野寬度:4 mm WD 時 2.3 mm

離子光學系統(tǒng)

高性能 PFIB 色譜柱,具有的電感耦合等離子 (ICP) 源,,支持四種離子種類,,并具有快速切換能力

  • 離子種類(初級離子束):Xe、Ar,、O,、N

  • 切換時間<10 分鐘,僅需軟件操作

  • 離子束電流范圍:1.5 pA 至 2.5 μA

  • 加速電壓范圍:500V – 30 kV

  • 最大水平射野寬度:在等離子束重合點處為 0.9 mm

重合點時的氙離子束分辨率

  • <使用統(tǒng)計方法在 30 kV 時為 20 nm

  • 使用選擇性邊緣方法在 30 kV 時<10 nm

腔室
  • 在分析 WD 時的 E 和 I 束重合點 (4 mm SEM)

  • 端口:21

  • 內(nèi)部寬度:379 mm

  • 集成式等離子清潔器

探頭
  • Elstar 色譜柱鏡筒內(nèi) SE/BSE 探頭(TLD-SE、TLD-BSE)

  • Elstar 色譜柱柱內(nèi) SE/BSE 探頭 (ICD)*

  • Everhart-Thornley SE 檢測器 (ETD)

  • 查看樣品/色譜柱的 IR 攝像機

  • 用于二級離子 (SI) 和二級電子 (SE) 的高性能腔室內(nèi)電子和離子探頭 (ICE)

  • 腔室內(nèi) Nav-Cam 樣品導航攝像機*

  • 可伸縮,、低電壓,、高對比度、定向,、固態(tài)反向散射電子探頭 (DBS)*

  • 集成的等離子束電流測量

載物臺和樣品

靈活的五軸電動載物臺:

  • XY 范圍:110 mm

  • Z 范圍:65 mm

  • 旋轉(zhuǎn):360°(無限)

  • 傾斜范圍:-38° 至 +90°

  • XY 重復性:3 μm

  • 最大樣品高度:與共心點間距 85 mm

  • 0° 傾斜時的最大樣品重量:5 kg(包括樣品架)

  • 最大樣品尺寸:旋轉(zhuǎn)時 110 mm(也可以是更大的樣品,,但旋轉(zhuǎn)有限)

  • 計算中心旋轉(zhuǎn)和傾斜

高精度五軸電動載物臺,配有壓電驅(qū)動的 XYR 軸

  • XY 范圍:150 mm

  • Z 范圍:10 mm

  • 旋轉(zhuǎn):360°(無限)

  • 傾斜范圍:-38° 至 +60°

  • XY 重復性:1 μm

  • 最大樣品高度:與共心點間距 55 mm

  • 0° 傾斜時的最大樣品重量:500 g(包括樣品架)

  • 最大樣品尺寸:旋轉(zhuǎn)時 150 mm(也可以是更大的樣品,,但旋轉(zhuǎn)有限)

  • 計算中心旋轉(zhuǎn)和傾斜





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