The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM,、FIB/SEM）的成像能力,，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術(shù),，繼承了市場的第一批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺的優(yōu)良功能,。Hysitron PI系列 電鏡專用原位納米力學(xué)系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸,、微柱壓縮,、微球壓縮、懸臂彎曲,、斷裂,、疲勞、動態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能,。

Hysitron PI 85E掃描電鏡用納米壓痕儀擴(kuò)展了原位力學(xué)測試的范圍，彌補(bǔ)了納米級和微米級表征之間的差距,。這臺深度傳感納米力學(xué)測試系統(tǒng)專門設(shè)計(jì),，利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM,、PFIB）的*進(jìn)成像能力,，同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。設(shè)備擴(kuò)展的加載范圍使研究人員能夠準(zhǔn)確測試尺寸較大或堅(jiān)硬的結(jié)構(gòu),。這些結(jié)構(gòu)需要更大的載荷才能引起失效或斷裂,。PI 85E納米壓痕儀提供大量材料（從金屬和合金到陶瓷、復(fù)合材料和半導(dǎo)體材料）的壓痕,、壓縮,、拉伸和疲勞測試。PI85E緊湊,、低輪廓的架構(gòu)使其非常適合小腔室SEM,、拉曼和光學(xué)顯微鏡、光束線等,。

Hysitron IntraSpect 360 采用壓電稱重傳感器,，結(jié)合三板電容式傳感器技術(shù)。這種安排可顯著增加可用位移范圍,，同時(shí)保持超低噪聲底,。這種設(shè)計(jì)產(chǎn)生的熱量非常小，在接觸樣品時(shí)可提供的穩(wěn)定性,。在計(jì)算機(jī)斷層掃描研究 （μCT） 的成像過程中,，這一點(diǎn)非常重要，因?yàn)閿?shù)據(jù)采集時(shí)間可能很長,。測試長達(dá) 168 小時(shí),，與布魯克的參考頻率校正技術(shù)相結(jié)合,，已可靠地執(zhí)行。Hysitron PI系列 電鏡專用原位納米力學(xué)系統(tǒng)還包括布魯克的"執(zhí)行"高級控制模塊和TriboScan軟件,，用于精確,、反饋控制的納米機(jī)械測試和自動數(shù)據(jù)分析。