XRF膜厚儀 X熒光鍍層測(cè)厚儀是集多年X熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),，專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀,。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍,、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè),。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè),、五金衛(wèi)浴,、電子電氣、航空航天,、磁性材料,、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域,。

鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法： 1,、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005 2,、X-ray法（X射線法）,。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005 3、庫侖法,，此法一般為仲裁方法,。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005

XRF膜厚儀 X熒光鍍層測(cè)厚儀測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法 2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08 Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

應(yīng)用行業(yè)

1、 電子半導(dǎo)體行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的厚度測(cè)量 2,、 印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測(cè)量 3,、 貴金屬首飾手表行業(yè)鍍層厚度測(cè)量 4、 五金電鍍行業(yè)各種防腐性,、裝飾性及功能鍍層厚度測(cè)量

參數(shù)規(guī)格

1．分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）,；
2.同時(shí)檢測(cè)元素：多24個(gè)元素,，多達(dá)5層鍍層；
3.分析含量：一般為2ppm到99.9%,；
4.鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）,；
5.SDD探測(cè)器：分辨率低至135eV；
6.的微孔準(zhǔn)直技術(shù)：小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm,；
7.樣品觀察：配備全景和部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭,；
8.準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm,、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合,；
9.儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm,；
11.樣品臺(tái)尺寸：393（W）x 258 （D）mm,；
12.X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度：小于0.1um,；

測(cè)試實(shí)例

在計(jì)數(shù)率的情況下能分辨相近元素,，大大提高測(cè)試穩(wěn)定性、降低檢測(cè)限,。

11次測(cè)量結(jié)果（Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對(duì)比如下：

測(cè)試結(jié)論：實(shí)驗(yàn)表明,，使用電鍍膜厚測(cè)試儀對(duì)鍍件膜厚測(cè)試，結(jié)果度高,，速度快（幾十秒）,，其測(cè)試精度優(yōu)于國(guó)外儀器。

X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量,，測(cè)量范圍較小,，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層,、合金鍍層,。

β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用,。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀 向微型,、智能,、多功能、高精度,、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步,。

應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)
五金衛(wèi)浴
電子電器
磁性材料
航天新能源
汽車制造
貴金屬鍍飾......

五金電鍍層膜厚儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
全新的下照式設(shè)計(jì)，一鍵式的按鈕,，讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為必須,，極大減少您擺放樣品的時(shí)間,。
全新的光路系統(tǒng)，大大減少了光斑的擴(kuò)散,，實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試,。
搭配高分辨率可變焦攝像頭，配合高性能距離補(bǔ)正算法,，實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品（如凹凸面,，拱形，螺紋,，曲面等）的異型測(cè)試面的精準(zhǔn)測(cè)試,。

硬件配置
采用高分辨率的SDD探測(cè)器，分辨率高達(dá)140EV進(jìn)口的大功率高壓,，讓Ag,Sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定,。
配備微聚焦的X光管，猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓,，讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓。
多種準(zhǔn)直器可搭配選擇：0.1*0.2mm,；Φ0.15mm;Φ0.2mm,；Φ0.3mm。貼心打造出適合您的那一款,。

軟件界面
人性化的軟件界面,，讓操作變得更加便捷。曲線的中文備注,，讓您的操作更易上手,。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控，讓您的使用更加放心

鍍層測(cè)厚儀主要功能

　　1,、測(cè)量：?jiǎn)翁筋^全量程測(cè)厚,，儀器自動(dòng)補(bǔ)償偏差值。

　　2,、數(shù)據(jù)管理： 通過分組的方式來管理存儲(chǔ)的數(shù)據(jù),。一共分6組，每組包含99個(gè)數(shù)據(jù),。 可以對(duì)任意一組數(shù)據(jù)進(jìn)行查看,、刪除、打印以及通信操作,。

　　3,、測(cè)量模式：包括常規(guī)測(cè)量模式和監(jiān)控測(cè)量模式兩類測(cè)量模式?？梢栽诓煌墓ぷ鳜F(xiàn)場(chǎng)下給用戶提供不同的使用方式,，以解決現(xiàn)場(chǎng)的需求,。

　　a、常規(guī)測(cè)量

　　測(cè)量時(shí)儀器只顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的基本信息,，能夠滿足用戶最基本的測(cè)量需要,。

　　b、最小值捕捉

　　測(cè)量數(shù)據(jù)時(shí),，儀器會(huì)自動(dòng)捕捉到最小的測(cè)量值,。如果工廠驗(yàn)收以樣品的最小厚度值為檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的話，那么這種測(cè)量模式無疑是選擇,。

　　c,、統(tǒng)計(jì)測(cè)量

　　在這種模式下，儀器的功能欄里會(huì)同時(shí)顯示出測(cè)量數(shù)據(jù)的值,、最小值,、平均值、測(cè)量次數(shù),。給用戶提供更加直觀和方便的數(shù)據(jù)分析,，進(jìn)而對(duì)現(xiàn)場(chǎng)工件的優(yōu)劣情況進(jìn)行實(shí)時(shí)的觀測(cè)。

主要分為磁性金屬鍍層測(cè)厚儀,、電渦流金屬鍍層測(cè)厚儀,，X射線金屬鍍層測(cè)厚儀三類測(cè)量方法。

金屬鍍層測(cè)厚儀是一種對(duì)材料表面保護(hù),、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器,，測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層,、敷層,、貼層、化學(xué)生成膜等（在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating））,。 覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的手段,。為使產(chǎn)品國(guó)際化,，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求,。

XRF鍍層測(cè)厚儀俗稱X射線熒光測(cè)厚儀,、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀,、膜厚測(cè)試儀,、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度,。

XRF鍍層測(cè)厚儀：俗稱X射線熒光測(cè)厚儀,、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀,、膜厚測(cè)試儀,、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等,；功能：精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度,；應(yīng)用范圍：測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從22（Ti）到92（U）;5 層 （4 鍍層 + 基材） / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測(cè)試方法面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987應(yīng)用群體主要集中在：電路板、端子連接器,、LED,、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具,、五金電鍍,、珠寶首飾、汽車配件,、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等,；原理：X射線熒光什么是X射線?X射線存在于電磁波譜中的個(gè)特定區(qū)域,它由原子內(nèi)部電子躍遷產(chǎn)生,其波長(zhǎng)范圍在0.1-100?;能量大于100電子伏特.什么是X射線熒光?X射線熒光 是個(gè)原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程。