貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平,，升級版PIDS技術(shù)（號：4953978；5104221）,、優(yōu)化的132枚檢測器,，保證了儀器分辨率更高，結(jié)果更準確,，再現(xiàn)性更好,。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異,。PIDS技術(shù),，真正實現(xiàn)10nm粒徑測量；新型的干,、濕進樣模塊,，“即插即用”，滿足不同的分析要求，靈活便利,；直觀的軟件和觸摸屏設(shè)計,，大大簡化了儀器的操作，僅需點擊幾次便可獲得所需數(shù)據(jù),。LS 13 320 XR將為您帶來測量的新體驗,！
激光衍射粒度分析儀主要特點
• 優(yōu)于ISO 13 320技術(shù)標準
• 符合FDA的21 CFR Part 11標準
• 檢測器數(shù)量更多，高達132枚獨立物理位置檢測器,，對應(yīng)高達136個真實數(shù)據(jù)通道,，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息,，快速,、準確的真實粒度測量。
• 設(shè)計的“X”型對數(shù)排布檢測器陣列,，可以準確記錄散射光強信號,，不管單峰、多峰,，準確分析粒度分布,。
• 全自動運算分析功能，多峰自動檢測,，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型,，提供客觀的報告,。
• 升級版PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實現(xiàn)10nm下限峰值測量,。
• PIDS技術(shù)不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒,，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。
• 納米分析功能與微米分析功能合二為一,，功能強大,，真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。
• 新一代固體激光光源,，無需預(yù)熱,，7萬小時以上開機使用壽命 。
• 并行式信號采集與傳輸,，確保信號保持高信噪比,、無時差、高通量,。
• 多波長和偏振光分析技術(shù)令粒度分布在寬動態(tài)范圍內(nèi)的準確性分析獲得高度保障,。
• 多種自動化樣品分散系統(tǒng)，“即插即用”，數(shù)秒即可完成切換,，高效便利,。
• 新一代觸摸屏設(shè)計ADAPT分析軟件，操作更直觀,，無需操作經(jīng)驗,，簡單三步完成測量，直觀醒目的導航輪,，僅需一步實現(xiàn)數(shù)據(jù)顯示與導出,。
• ADAPT軟件自動對測量結(jié)果標準綠色或紅色，自動合格/不合格管理,，實現(xiàn)直接質(zhì)控,。
• 軟件配有強大的光學參數(shù)數(shù)據(jù)庫，具有創(chuàng)新的“Zero-Time”即時光學模型系統(tǒng),，只需一秒即可建立新的光學模型,，提供客觀準確的分析報告。
• 儀器配有自檢診斷功能,，測試過程中隨時顯示測量情況,。
技術(shù)參數(shù)：
• 粒徑范圍：10納米-3500微米 （峰值）
• 主光路激光光源：光纖連接的固體激光器
• 檢測器：132枚獨立物理角度檢測器
• 真實分析通道：136個
• 多波長測量：475nm、613nm,、785nm及900nm
• 光學理論模型：全程Mie理論,；Fraunhofer理論
• 準確性誤差：小于+/- 0.5%
• 重現(xiàn)性誤差：小于+/- 0.5%
激光衍射粒度分析儀應(yīng)用優(yōu)勢：
• 廣泛應(yīng)用于食品添加劑、土壤,、沉淀物,、黏合劑、合金,、金屬粉末,、藥物、礦物,、紙等應(yīng)用領(lǐng)域,。
• 大容量，專為土壤,、沉積物設(shè)計 –標準樣品臺——容量高達1500mL,，提高寬分布樣品的代表性、準確度及重復性
√ 自動智能清洗,，自動進排液,，循環(huán)速度可調(diào)
√ 內(nèi)置樣品超聲處理，達到穩(wěn)定可靠分散
• 對含量較少的細顆粒成分( 粘粒,、細粉沙) 和粗顆粒成分檢測效果理想,，全自動操作簡單