1MHZ介電常數(shù)ASTMD150測試儀相位角，θ,，名詞——該角度的余切值為耗散因子,，反余切值K''/K',，同時(shí)也是施加到某一電介質(zhì)的正弦交流電壓與其形成的具有相同頻率的電流分量之間的相位角度差值。

1MHZ介電常數(shù)ASTMD150測試儀相對電容率（相對介電常數(shù)）（SIC）K'（εr）,，名詞——相對復(fù)數(shù)電容率的實(shí)數(shù)部分,。它也是采用某一材料作為電介質(zhì)的某一給定形狀電極等效并聯(lián)電容Cp與采用真空（或空氣，適用于多數(shù)實(shí)際用途）作為電介質(zhì)的相同形狀電極電容Cv之間的比值,。

信號源：DDS數(shù)字合成信號

頻率范圍：100KHZ-160MHZ

Q分辨率：4位有效數(shù),，分辨率0.1

電感測量范圍：1nH～140mH,；分辨率0.1  

信號源頻率精度： 3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)

Q值測量范圍： 1～1023自動/手動量程

Q值量程分檔： 30,、100,、300、1000,、自動換檔或手動換檔

信號源頻率覆蓋比：16000:1  

采樣精度：12BIT

Q測量工作誤差：＜5%

電感測量誤差：＜3%

電容直接測量范圍：1pF～2.5uF

調(diào)諧電容誤差分辨率：±1pF或＜1%

主電容調(diào)節(jié)范圍：17～540pF

諧振點(diǎn)搜索：自動掃描

自身殘余電感扣除功能：有

大電容值直接顯示功能：有

介質(zhì)損耗系數(shù)精度：萬分之一

K'=Cp/Cv　

討論——e——干燥空氣在23℃和101.3kPa標(biāo)準(zhǔn)壓力下的電容率為1.000536（1）,。6其從整體的背離值K'-1與溫度成反比，同時(shí)直接與大氣壓力成正比,。當(dāng)空間在23℃下達(dá)到水蒸氣飽和時(shí),，電容率增加至為0.00025（2,3），同時(shí)隨著溫度（單位為℃）從10到27℃近似發(fā)生線性變化,。對于局部飽和,，增加值與相對濕度成正比。電容率——絕緣材料通常以兩種不同方式來使用,，即（1）用于固定電學(xué)網(wǎng)絡(luò)部件,，同時(shí)讓其彼此以及與地面絕緣；（2）用于起到某一電容器的電介質(zhì)作用,。在靠前種應(yīng)用中,，通常要求固定的電容盡可能小，同時(shí)具有可接受且一致的機(jī)械,，化學(xué)和耐熱性能,。因此要求電容率具有一個低值。在第二種應(yīng)用中,，要求電容率具有一個高值,，以使得電容器能夠在外型上能盡可能小。有時(shí)使用電容率的中間值來評估在導(dǎo)體邊緣或末端的應(yīng)力,，以將交流電暈降至較小,。影響電容率的因子討論見附錄X3。交流損耗——對于這兩種場合（作為電學(xué)絕緣材料和作為電容器電介質(zhì)）,，交流損耗通常必須是比較小的,，以減小材料的加熱，同時(shí)將其對網(wǎng)絡(luò)剩余部分的影響降至較小。在高頻率應(yīng)用場合,，特別要求損耗指數(shù)具有一個低值，因?yàn)閷τ谀骋唤o定的損耗指數(shù),，電介質(zhì)損耗直接隨著頻率而增大,。在某些電介質(zhì)結(jié)構(gòu)中，例如試驗(yàn)用終止襯套和電纜所用的電介質(zhì),，通常電導(dǎo)增加可獲得損耗增大,，這有時(shí)引入其來控制電壓梯度。在比較具有近似相同電容率的材料時(shí)或者在材料電容率基本保持恒定的條件下使用任何材料時(shí),，這可能有助于考慮耗散因子,，功率因子，相位角或損耗角,。影響交流損耗的因子討論見附錄X3,。