OmniScanX3便攜式探傷儀
- 公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/1/29 10:18:02
- 訪問次數(shù) 1016
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示波器,電子負(fù)載,熱像儀,邏輯分析儀,,頻譜分析儀,,數(shù)據(jù)采集器,安規(guī)綜合測試儀,,交直流電源,,電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案,
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
OmniScanX3便攜式探傷儀
OmniScan X3 64相控陣探傷儀沿用了已經(jīng)現(xiàn)場驗(yàn)證,、堅(jiān)固耐用、輕盈便攜的OmniScan X3外殼,,其強(qiáng)大的聚焦功能得到了更大的晶片孔徑容量的支持,,可使您充分利用64晶片相控陣探頭,進(jìn)行128晶片孔徑的TFM檢測,。 您可以利用這款儀器的增強(qiáng)性能,,迎接檢測較厚、衰減性較強(qiáng)材料的挑戰(zhàn),,并提升您的潛力,,為更廣泛的應(yīng)用開發(fā)新程序。
OmniScan X3相控陣探傷儀是一個(gè)完備的相控陣工具箱,。 其性能強(qiáng)大的工具,包括全聚焦方式(TFM)成像和高級可視化能力,,在其高質(zhì)量成像功能的支持下,,可使您更加充滿信心地完成檢測。
OmniScanX3便攜式探傷儀
提前確認(rèn)TFM(全聚焦方式)聲波覆蓋范圍
聲學(xué)影響圖(AIM)工具可以基于您的TFM(全聚焦方式)模式,、探頭,、設(shè)置和模擬反射體,即時(shí)提供靈敏度的可視化模型,。
聲學(xué)影響圖(AIM)工具消除了掃查計(jì)劃創(chuàng)建過程中的猜測因素,,因?yàn)槠聊簧蠒?huì)顯示某個(gè)聲波組(TFM模式)的效果圖,使您看到靈敏度消失的位置,,并對掃查計(jì)劃進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整,。
用PCI查看您錯(cuò)過了什么
我們創(chuàng)新性的無振幅實(shí)時(shí)相位相干成像(PCI)提高了對小缺陷的靈敏度和在噪聲材料中的穿透力,同時(shí)簡化了設(shè)置和尺寸調(diào)整,。從MXU 5.10開始,,可用于OmniScan X3 64探傷儀。