賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 蘇州賽可檢測設(shè)備有限公司
- 品牌 SEC/賽可
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/5/6 12:00:48
- 訪問次數(shù) 1828
產(chǎn)品標簽
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥/生物制藥 |
賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series簡介:
該檢測設(shè)備搭載200納米的Nano-focus Tube,,廣泛應用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導體封裝及Waffer level packaging(WLP)領(lǐng)域里,。通過大理石平臺和各個高精度驅(qū)動軸,可以更加精準的找到不良部位并且正確的分析不良問題,。添加3D CT模塊可進行斷層分析,,通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動裝卸Waffer,,自動檢測,,實現(xiàn)Full Auto全自動檢測的設(shè)備。
賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series特點:
1.搭載自主研發(fā)生產(chǎn)的200nm級別開管式光管(Focal spot size Nano-focus open tube)
2.Wafer level工藝中,,對TSV,,Micro-bump,Cu pilar等產(chǎn)生的超細微不良進行自動檢測的優(yōu)秀選擇
3.SEC*的3D CT用Auto Collimation 及 Filtering技術(shù)實現(xiàn)X-ray damage free(無損檢測)
4.安全檢測存儲半導體芯片
5.可同時兼容2D,3D自動檢測
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