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JIACO等離子芯片開封機(jī)MIP

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似空科學(xué)儀器(上海)有限公司是一家儀器設(shè)備的經(jīng)銷商。我們致力于為中國(guó)制造業(yè)和研發(fā)機(jī)構(gòu)提供高精度,、符合人體工學(xué)設(shè)計(jì)的儀器設(shè)備,。我們也夢(mèng)想有朝一日,能夠充分掌握市場(chǎng)需求,,深刻理解儀器設(shè)備的技術(shù)原理,,聚集一批有激情、有理想,、有技術(shù)的人,,為中國(guó)的制造業(yè)升級(jí)以及中國(guó)科研走向世界,提供自有知識(shí)產(chǎn)權(quán)的先進(jìn)儀器設(shè)備,!
儀器設(shè)備發(fā)展的是探測(cè)手段和傳感器不對(duì)被測(cè)目標(biāo)產(chǎn)生任何干擾,,企業(yè)管理的是一切以市場(chǎng)為核心,,不以自我的意愿抗拒市場(chǎng)的趨勢(shì),代替客戶的喜好,,于是我們?nèi)∶?ldquo;似空”,,希望以忘我的精神服務(wù)客戶。

 

失效分析,,芯片開封,,表面觀測(cè),金相研磨,,光學(xué)及視頻顯微鏡,,超聲波檢測(cè),X射線檢測(cè),,激光微納加工等

品牌 JIACO
 

 

微波誘導(dǎo)等離子芯片開封系統(tǒng)(JIACO-MIP)

 

 
 
可靠的集成電路封裝開封技術(shù)
 
JIACO 儀器公司的微波誘導(dǎo)等離子(MIP)芯片開封系統(tǒng)是一款具有突破性的創(chuàng)新產(chǎn)品,,可在非抽真空的常規(guī)氣壓下,采用氧氣和專li的氫氣方案自動(dòng)完成芯片開封過程,,包含全自動(dòng)的超聲波清洗步驟,。
 
設(shè)備適用于開封包含 Cu、PCC,、Ag 等引線的各類先進(jìn)芯片封裝形式,,包括 ED、 SiP,、WLCSP,、BOAC 等,開封過程對(duì)芯片不會(huì)造成任何損傷,,為集成電路芯片的可靠性和失效分析提供了一種ji佳的方案,。
 
 

 

JIACO-MIP 失效分析和質(zhì)量控制的應(yīng)用

 

1、 鍵合線(Wire bond):
? 銀線(Ag)
? 銅線,、復(fù)合型膠凝材料、金線,、 鋁線(Cu,PCC,Au,Al)
? 常規(guī)或經(jīng)過老化測(cè)試的樣品
2,、 倒裝芯片(Flip Chip)
? 重布線層(RDL)
? 銅柱(Cu Pillar)、焊錫凸塊(Solder Bump)
? 扇入型和扇出型 WLP
 
3,、 芯片
? BOAC
? SAW,、BAW
? 砷 化 鎵 芯 片 、 氮 化 鎵 芯 片 GaAs,GaN
 
4,、 封裝
? 2.5D / 3D
? SiP,、CoWoS
? Chip on Board
 
5、 封裝材料
? High Tg
? Glob Top
? Underfill,、DAF,、FOW
? Clear Mold, Die Coat
 
 
6,、 FA 類型
? 電氣過應(yīng)力(EOS)
? 遷移(Migration)
? 腐蝕(Corrosion)
? 雜質(zhì)污染(Contamination)
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
等離子開封
? 開封過程不造成損傷
? 保留表面特征
? 保留原始污染雜質(zhì)和失效點(diǎn)
 
 
化學(xué)開封
? 會(huì)減小導(dǎo)線直徑
? 會(huì)減小機(jī)械強(qiáng)度
? 會(huì)腐蝕銅線和鋁質(zhì)焊盤

 

   

 

用于可靠性測(cè)試和失效分析的開封技術(shù)

 

 

 

 
銀線 IC 封裝的等離子開封
對(duì)銀線、銀質(zhì)球焊接頭,、接合焊盤,、鈍化層和芯片不造成損傷

 

 

 

 

 

 

 

 

 
MIP 等離子開封
+   只使用氧氣和專li的氫氣配方,對(duì)鈍化層和芯
     片不造成損傷
+   減少 70%開封時(shí)間
+   全自動(dòng)開封過程
+   完quan保留原始污染雜質(zhì)和失效點(diǎn)
+   常規(guī)氣壓,,減少維修和維護(hù)成本
 
 
傳統(tǒng)等離子開封
+   CF4 刻蝕對(duì)鈍化層和芯片會(huì)造成損傷
+   雖然添加 CF4,,但開封時(shí)間依然較長(zhǎng)
+   需手動(dòng)清洗每個(gè)蝕刻操作步驟所產(chǎn)生的無機(jī)雜質(zhì)
+   可能導(dǎo)致原始污染雜質(zhì)和失效點(diǎn)會(huì)被消除
+   真空系統(tǒng),維修和維護(hù)成本較高
 
 

 

 

 

適用于可靠性測(cè)試和失效分析的開封技術(shù)

 

 

 

 

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