分析含量范圍 | 1ppm-99.9% | 價格區(qū)間 | 50萬-100萬 |
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能量分辨率 | 128eveV | 行業(yè)專用類型 | 其它 |
儀器種類 | 臺式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
元素分析范圍 | 從硫到鈾之間 | 重復性 | 0.01 |
分析孔徑 | 30nm |
XTU-A、XTU-50A:五金產(chǎn)品,、緊固件,、汽車配件,、衛(wèi)浴等,測量面積大于?0.2mm的產(chǎn)品
XTU-BL:主要針對線路板等大平面,,但是需要測試?0.1mm以下,,且求購儀器預(yù)算較低的客戶。
XTU-50B,、XTU-4C:可測試小至?0.05mm測量面積,,且搭載的精密移動平臺和變焦鏡頭(XTU全系列都含有)能滿足各種需求。
我公司提供多導毛細聚焦X射線熒光鍍層測厚儀產(chǎn)品,。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū),。我們的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,,溫州測厚儀,,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),、**的解譜方法和EFP算法結(jié)合*定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題,。廣泛應(yīng)用于電子元器件,、LED和照明、家用電器,、通訊,、汽車電子等制造領(lǐng)域。
芯片載體的引線框架,,它起到了和外部導線連接的橋梁作用,,絕大部分的半導體集成塊中都需要使用引線框架,是電子信息產(chǎn)業(yè)中重要的基礎(chǔ)材料,。封裝基板是Substrate(簡稱SUB),。基板可為芯片提供電連接,、保護,、支撐、散熱,、組裝等功效,,以實現(xiàn)多引腳化,縮小封裝產(chǎn)品體積,、改善電性能及散熱性,、超高密度或多芯片模塊化的目的。
作為芯片封裝的載體和基板,,為了保證芯片和引線框架和基板的良好連接,,會在引線框架以及基板上進行鍍銀或者化學鎳鈀金(ENEPIG)的電鍍處理,。
ENEPIG工藝,是指在基材表面先鍍化學鎳然后在鍍鈀和金,,Au 和 Pd 的涂層厚度僅為幾納米,。為了確保產(chǎn)品品質(zhì),必須要對低至納米的鍍層厚度進行測量,。
多導毛細聚焦X射線熒光鍍層測厚儀優(yōu)勢
1,、多導毛細光學系統(tǒng)和高性能SDD探測器:區(qū)別金屬準直,多導毛細管可將光束縮小至10 μm,,同時得到數(shù)千倍的強度增益,。可測量超微小樣品的同時極大程度保證了測試的準確性及穩(wěn)定性,。
2,、微米級超小區(qū)域:在Elite-X光學系統(tǒng)設(shè)計下大大降低檢出限,納米級超薄鍍層均可準確,、可靠測試
3,、樣品整體形貌一覽無余,且測試位置一鍵直達
4,、搭配高分辨微區(qū)相機:千倍放大*對焦測試區(qū)域,,搭配XY微米級移動平臺,三維方向?qū)咕劢箿y試點位,,誤差<±2 μm
5,、多重保護系統(tǒng):V型激光保護,360°探入保護,,保護您的樣品不受損害,保證儀器安全可靠的運作
6,、全自動移動平臺:可編程化的操作,,針對同一類型樣品,編程測試點位,,同一類樣品自動尋路直接測試
7,、人性化的軟件:搭配EFP核心算法軟件,人機交互,,智慧操作
8,、可搭配全自動進送樣系統(tǒng),與您的產(chǎn)線*配合