碳化硅(SiC)已成為工業(yè)電子領(lǐng)域重要的寬禁帶半導(dǎo)體之一,，由于其高熱導(dǎo)率、高擊穿場(chǎng)強(qiáng),、高電子飽和漂移速率等優(yōu)勢(shì),，特別是對(duì)于大功率半導(dǎo)體器件，碳化硅優(yōu)于硅,，更受青睞,。而碳化硅(SiC)外延材料的厚度、背景載流子濃度等參數(shù)直接決定著SiC器件的各項(xiàng)電學(xué)性能,。

　　因此,，碳化硅外延技術(shù)對(duì)于碳化硅器件性能的充分發(fā)揮具有決定性的作用，是寬禁帶半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)重要的一環(huán),。不知您是否為外延層厚度無(wú)損分析問(wèn)題而困擾,，在此我們介紹一種光學(xué)無(wú)損外延層厚度分析技術(shù)——傅立葉變換紅外反射光譜法(FTIR)。

　　紅外光譜法可用于測(cè)量半導(dǎo)體外延層厚度,，無(wú)論硅基還是化合物半導(dǎo)體,，且測(cè)量精度高。此方法是基于紅外光在層狀結(jié)構(gòu)中產(chǎn)生的光干涉效應(yīng)的分析,，結(jié)合基礎(chǔ)的物理自洽擬合模型,，充分利用所測(cè)得的光譜特征，擬合計(jì)算給出準(zhǔn)確的層厚厚度值,。

　　對(duì)于摻雜后折射率參數(shù)很難準(zhǔn)確確定的情況下,，不僅可用于單層外延層層厚分析,，更重要的可以用于復(fù)雜多層結(jié)構(gòu)外延層層厚分析。結(jié)合布魯克INVENIO,，VERTEX系列寬波段光譜儀,，可用于亞微米量級(jí)至毫米量級(jí)的外延層層厚分析。

　　厚度范圍：亞微米量級(jí)至毫米量級(jí)

　　同質(zhì)外延,、異質(zhì)外延

　　單層,、多層

　　專(zhuān)用的分析模型，尤其對(duì)于復(fù)雜,、多層結(jié)構(gòu)的分析

　　可選自動(dòng)晶圓掃描成像附件,，可對(duì)直徑2"—12"的晶圓進(jìn)行自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)試、分析

　　傅立葉變換紅外光譜技術(shù)高精度,、高光通量,、高靈敏度、高特征性,、快掃描速度,，可以研究穩(wěn)態(tài)、及動(dòng)態(tài)樣品信息,，在催化劑表征方便有成熟,、廣泛的應(yīng)用。主要用來(lái)研究催化劑表面組成,，固體酸催化劑表面酸性部位類(lèi)型(L酸,，B酸)，表面吸附態(tài),，載體與助劑間的相互作用以及與活性組分之間的相互作用,。

　　結(jié)合各種采樣模式原位池(透射、漫反射),，以及跟超高真空腔室(UHV)聯(lián)用的原位紅外光譜容易實(shí)現(xiàn)各種溫度,、壓力、氣氛以及光照的原位光譜分析,，結(jié)合傅立葉變換紅外時(shí)間分辨功能,，特別在氣固相催化反應(yīng)機(jī)理、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)研究方面得到廣泛的應(yīng)用和青睞,。

　　INVENIO 是布魯克推出的研究級(jí)傅立葉變換紅外(FTIR)光譜儀的入門(mén)級(jí)產(chǎn)品,。INVENIO 產(chǎn)品的創(chuàng)新技術(shù)及其智能精巧的設(shè)計(jì)為新一代傅立葉變換紅外光譜儀樹(shù)立了標(biāo)準(zhǔn)。新的光路設(shè)計(jì)將帶來(lái)優(yōu)異的信噪比,、較寬的光譜范圍(覆蓋從遠(yuǎn)紅外至紫外/可見(jiàn)光譜區(qū))和高靈活性,，適用于各種復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)配置。

　　可選的集成平板電腦觸控界面讓 您擁有簡(jiǎn)單的工作流程和舒適的操作體驗(yàn)。

　　布魯克的 MultiTect™ 檢測(cè)器技術(shù)支持多達(dá)5個(gè)全自動(dòng)室溫檢測(cè)器,。結(jié)合獨(dú)立的 DigiTect™ 檢測(cè)器位與支持快速 MIR 測(cè)量的 Transit™ 通道,，INVENIO 內(nèi)部可配備多達(dá) 7個(gè)自動(dòng)檢測(cè)器，讓您的日常工作變得更加舒心,。

　　布魯克INVENIO原位催化/外延層厚度 傅立葉變換紅外光譜儀特點(diǎn)：

　　1.可選的平板電腦觸控操作界面,，有助于實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的工作流程

　　2.創(chuàng)新型 MultiTect™ 檢測(cè)器技術(shù)，支持多達(dá) 5個(gè)室溫檢測(cè)器

　　3.獨(dú)立 DigiTect™ 檢測(cè)器插槽,，用于如 LN2 冷卻型檢測(cè)器或其他 DigiTect™ 檢測(cè)

　　4.Transit™ 測(cè)量通道,，滿(mǎn)足中紅外透射快檢需求

　　5.RockSolid™ 長(zhǎng)久性準(zhǔn)直干涉儀，讓您能夠輕松地更換分束器

　　6.布魯克FM技術(shù),，實(shí)現(xiàn) 6000 cm-1 到 80 cm-1中遠(yuǎn)紅外譜區(qū)的一次性測(cè)量

　　7.可實(shí)現(xiàn)近紅外,、遠(yuǎn)紅外和紫外/可見(jiàn)光光譜范圍的輕松升級(jí)

　　8.3 個(gè)輸出與 2 個(gè)輸入光束端口，可通過(guò)軟件進(jìn)行選擇,。若需要,，還可提供第四個(gè)輸出端

　　9.兼容 VERTEX 譜儀的所有附件外部模塊

　　集成觸控平板電腦

　　集成的平板電腦觸控界面可左右直線(xiàn)移動(dòng)，還可沿兩個(gè)方向傾斜,，給您日常的科學(xué)實(shí)驗(yàn)帶來(lái)更為輕松智能的舒適體驗(yàn),。OPUS-TOUCH R&D 軟件為您簡(jiǎn)化了工作流程、實(shí)現(xiàn)直觀(guān)的操作,。在科研級(jí)應(yīng)用中,，可連接臺(tái)式電腦進(jìn)行更多的高級(jí)操作和分析,。

　　MultiTect™ 檢測(cè)器技術(shù)

　　讓人難以置信但千真萬(wàn)確的事實(shí)是,，布魯克的創(chuàng)新型MultiTect™檢測(cè)器技術(shù)支持同時(shí)配置多達(dá) 5 個(gè)全自動(dòng)室溫檢測(cè)器，從而覆蓋從遠(yuǎn)紅外至紫外/可見(jiàn)光的整個(gè)光譜范圍,。結(jié)合獨(dú)立的 DigiTect™ 檢測(cè)器插槽和 Transit™ 通道,，INVENIO 可配置多達(dá)7個(gè)內(nèi)置檢測(cè)器，并可通過(guò)軟件予以控制,。

　　Transit™測(cè)量通道

　　INVENIO 可選擇性配置一個(gè)額外的透射測(cè)量通道,，以便快速、方便地進(jìn)行中紅外光譜的測(cè)量,。Transit™ 通道集成了中紅外 DTGS 檢測(cè)器,，直接獲得快檢結(jié)果，無(wú)需移除主樣品室中的大型光學(xué)附件,。

　　光譜分辨率

　　INVENIO 的光譜分辨率優(yōu)于 0.16 cm-1,，可滿(mǎn)足幾乎 一切氣態(tài)與凝聚態(tài)樣品(例如，固態(tài)或液態(tài)樣品)的 測(cè)量要求,。

　　寬光譜范圍

　　INVENIO 可選擇性地配備光源,、任意數(shù)量的分束器 和檢測(cè)器，以覆蓋從 15 cm-1 到 28,000 cm-1,，也就是 從超遠(yuǎn)紅外至紫外/可見(jiàn)光的整個(gè)光譜范圍,。得益 于長(zhǎng)久準(zhǔn)直的 RockSolid™ 干涉儀,、布魯克*的 MultiTect™ 檢測(cè)器技術(shù)和多個(gè)內(nèi)部與外部光源位置，改變光譜范圍變成了一項(xiàng)十分簡(jiǎn)單的任務(wù),。只需 添加相應(yīng)譜區(qū)的光學(xué)元件(檢測(cè)器,、分束器和光源) ，即可輕松地將每臺(tái) INVENIO 升級(jí)到全譜區(qū)范圍,。

　　布魯克 FM 技術(shù)

　　布魯克的FM中遠(yuǎn)紅外同步技術(shù)由其*的超 寬范圍分束器和寬范圍 DLaTGS 檢測(cè)器組成,。 結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)部紅外光源，可通過(guò)一次性測(cè)量而無(wú)需 更換任何光學(xué)元件,，生成從 6000 cm-1至80 cm-1 的 完整遠(yuǎn),、中紅外光譜圖。

　　新一代智能型研究級(jí)光譜儀

　　INVENIO 的創(chuàng)新型儀器設(shè)計(jì)體現(xiàn)在多個(gè)方面,， 例如,，可向?qū)捁庾V范圍輕松升級(jí)的能力、優(yōu)化的方 便更換附件的 QuickLock 功能,、帶有創(chuàng)新型磁性 基座的電子編碼窗口,、可自動(dòng)識(shí)別的樣品支架、用于驗(yàn)證與定制濾光器的 8 檔濾光器輪,，以及用于高靈敏度檢測(cè)器或用于衰減外部光源或激光 的內(nèi)置5級(jí)自動(dòng)衰減器輪,。內(nèi)置獨(dú)立 CPU 的強(qiáng)大 電子單元為將來(lái)各種技術(shù)升級(jí)打下基礎(chǔ)。