化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專(zhuān)用儀器>集成電路測(cè)試與分選設(shè)備>探針臺(tái)>FPAPO-MJ-8 真空變溫探針臺(tái),變溫晶圓測(cè)試
FPAPO-MJ-8 真空變溫探針臺(tái),變溫晶圓測(cè)試
- 公司名稱(chēng) 孚光精儀(中國(guó))有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) FPAPO-MJ-8
- 產(chǎn)地 www.felles.cn/probestation.html
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2024/9/2 16:20:32
- 訪問(wèn)次數(shù) 504
聯(lián)系方式:華小姐021-22799028 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
這款真空變溫探針臺(tái)是專(zhuān)業(yè)變溫真空晶圓流測(cè)試設(shè)計(jì)的專(zhuān)業(yè)變溫真空探針臺(tái),滿(mǎn)足晶圓變溫光電測(cè)試需要,測(cè)試溫度范圍達(dá)到液氮溫度 -180℃~600℃,特別適合高溫和極低溫環(huán)境下晶圓真空變溫測(cè)試和射頻測(cè)試,。
真空變溫探針臺(tái)特點(diǎn)
測(cè)試溫度:-180℃~600℃
適合高功率器件測(cè)試20kV DC/200A
即使在真空狀態(tài)下,也可以使用外部操作型定位器(探頭)移動(dòng)致動(dòng)器
良好的光和電屏蔽效果
MJ-8型探針臺(tái)可用于霍爾效應(yīng)測(cè)量
真空變溫探針臺(tái)應(yīng)用
Low level IV (fA)和Low level CV (fF)
高功率器件探針測(cè)試:20KV DC/200A
RF射頻測(cè)試
高功率器件測(cè)試20kV DC/200A
高溫和極低溫晶圓溫度特性測(cè)試
氣體環(huán)境測(cè)試
真空變溫探針臺(tái)可選配件
冷熱臺(tái) -180℃~+600°C
各種光源
三目顯微鏡(標(biāo)配體視顯微鏡)
CCD相機(jī)
Probe card (4.5 inch square PCB)
真空變溫探針臺(tái)可連接配合的測(cè)試儀器
設(shè)備分析儀/參數(shù)分析儀
功率器件分析儀
源度量單位
曲線(xiàn)跟蹤器
精密LCR儀表
數(shù)字萬(wàn)用表
阻抗分析儀
網(wǎng)絡(luò)分析器
真空變溫探針臺(tái)規(guī)格參數(shù)
型號(hào) | MJ-8 | MJ-10 |
晶圓卡片尺寸 | 20x20mm | φ60㎜ |
真空度(使用渦輪泵) | 10?3 Pa | 10?3 Pa |
腔室尺寸 | φ116×30㎜(H) | φ216×138㎜(H) |
探針移動(dòng)距離 | X:5㎜ Y:5㎜ Z:3㎜ | X:8㎜ Y:5㎜ Z:8㎜ |
探針工作范圍 | X:~18㎜ Y:~15㎜ | X:~40㎜ Y:~20㎜ |
θ分辨率 | 0.001度 | 0.000022294deg |
相關(guān)分類(lèi)
該廠商的其他產(chǎn)品
- FPAPO-α200 進(jìn)口晶圓測(cè)試探針臺(tái)
- FPAPO-AP-200 光電測(cè)試探針臺(tái),晶圓光電流測(cè)試
- FPAPO-Probearm 高壓探針臂,高壓電流探針測(cè)試,probe arm
- FPAPO-Coaxial 三軸探針臂,同軸探zhen臂,probe arm
- FPAPO-M40 探針臺(tái)操縱器,探針操縱qi
- FPPRI-Kelvin Probe 開(kāi)爾文探針系統(tǒng),Kelvin Probe
- FPSIG-WL-350-LE 進(jìn)口高溫探針臺(tái),高功率探針tai
- FPKPT-SKP5050 KPFM-SKPM開(kāi)爾文探針力顯微鏡