TESCAN CLARA SEM掃描電子顯微鏡是一款應用廣泛的多功能掃 描電子顯微鏡，是基于成功的S8000基礎上進一步 研發(fā)的,，其設計更能滿足材料科學的需求,，適用于 對各種不同類型材料的分析和表征。

TESCAN CLARA SEM掃描電子顯微鏡是真正靈活的分析平臺，能 得到具有好襯度的優(yōu)質(zhì)圖像,。無論樣品是否導 電,、有無磁性、是有機還是無機材料,， CLARA均可提供理想的圖像,，這得益于具有電子 信號過濾功能的良好探測系統(tǒng)和可變真空環(huán)境的系 統(tǒng)設計。

BrightBeam™SEM 鏡筒

最新的BrightBeam™ SEM鏡筒,，實現(xiàn)了無磁 場高分辨成像,，適用于磁性樣品分析。新型鏡筒中 的電子光路設計增強了低能量電子成像分辨率,，特 別適合分析電子束敏感樣品和不導電樣品,。

多探測器成像分析

CLARA配置最新的多種探測器,，可 選擇不同角度和能量收集信息,，體現(xiàn)更多種類的 信息，同時能夠獲得更好的表面靈敏度和對比度,。

SE 分辨率：0.9 nm@15kV

•  1.2 nm @ 1 kV

•  配置靜電■電磁復合物鏡,，物鏡無磁場外泄， 可實現(xiàn)磁性樣品超高分辨成像和分析 新一代鏡筒內(nèi)電子加速,、減速技術(shù),，保證復 雜樣品的低電壓高分辨觀測

•  配置4個新一代探測器，可實現(xiàn)9種圖像觀 測,，樣品信息采集更加全面

•  超過20個擴展接口,，可配置多種分析附件， 并實現(xiàn)Raman 一體化集成

1,、硅基底上的鍍金顆粒,。

2、陶瓷斷裂表面,，2 keV成像,。

3、在Cyr,。條件下觀察到的真菌弛子,。

4、用TESCANCL探測器獲得的石英晶體的CL圖像,。