Park NX-Wafer
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 上海磊微科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2022/11/17 16:25:43
- 訪問次數(shù) 536
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源 |
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Park NX-Wafer為在線晶圓廠計量提供高生產(chǎn)率和強(qiáng)大特性
高吞吐量晶圓廠檢測和分析
Park NX-Wafer溝設(shè)槽備寬前度端、模深塊度(E和F角EM度)測用量于的自自動動晶數(shù)圓據(jù)傳采送集和分析,。
精確的亞埃級表面粗糙度控制
真界實最非低接噪觸音模低式至使0得.5參A數(shù)rm相S關(guān)·遍結(jié)布果整具個有晶免圓疫區(qū)性域 保比持其探他針AF針M有尖1的0銳倍度-20以倍達(dá)的到更表長面的粗探糙針度壽精命度,。
全自動化高吞吐量缺陷成像
直通特接過定連更接強(qiáng)到的缺視自陷覺動映來放射進(jìn)大檢行AF測自M掃動設(shè)描坐備而標(biāo)不轉(zhuǎn)需換要和進(jìn)缺陷行移映射動校平臺正的校準(zhǔn),。