XRF—便攜式礦石分析光譜儀產(chǎn)品說明：

K-600便攜式礦石分析儀非常堅固耐用,，可以在極為惡劣的環(huán)境中完成分析要求很高的應(yīng)用,。 每臺設(shè)備都應(yīng)用了科邁斯新開發(fā)的KMX技術(shù)，這種技術(shù)是XRF信號處理方面的一項革新,，可提供精確無誤,、重復(fù)性很高的結(jié)果，從而使用戶獲得更高的生產(chǎn)力,，并快速得到投資回報。k-600可以用來對各種不同類型的礦石進行現(xiàn)場分析,。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng),，無輻射性同位素，現(xiàn)場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究,，對樣品要求低,，但是測試結(jié)果準確，能準確分析高濃度樣品,，避免了驗證性的實驗室測試,。科邁斯手持式 k-600分析儀可對各種礦石進行多元素分析,，廣泛應(yīng)用于各類礦石的檢測和分析,，還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦,、銀礦,、銅礦,、鐵礦、錫礦,、鋅礦,、鎳礦、鉬礦,、銥礦,、砷礦、鉛礦,、鈦礦,、銻礦、錳礦,、釩礦,、碘礦、硫礦,、鉀礦,、磷礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石,、礦渣,、巖石、泥土,、泥漿,。被檢測的樣品可以是固體、液體,、粉塵,、粉末、實心體,、碎片,、過濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體,。

K-600手持式礦石分析儀
秉承科邁斯多年的X熒光光譜儀(手持式光譜儀)研發(fā)經(jīng)驗,，KMX全新一代手持XRF礦石分析儀——K-600再次帶來了一場分析領(lǐng)域的革命。K-600引入數(shù)字多道技術(shù),，使檢出限更低,，穩(wěn)定性更高，適用面更廣,，性能媲美臺式機,；小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類地質(zhì)礦樣多元素檢測和分析,、礦渣精煉分析中充分發(fā)揮作用,，使探礦工作更為簡單,、輕松。K-600手持式礦石分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進行現(xiàn)場分析,。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng),，無輻射性同位素，現(xiàn)場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究,，對樣品要求低,，但是測試結(jié)果準確，能準確分析高濃度樣品,，避免了驗證性的實驗室測試,。

XRF資料建模技術(shù)：

1、X射線管光源,、多光束過濾技術(shù),、以及惠普個人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌上型電腦)，從而使其采測范圍,、檢測速度,、檢測精度都非常出色，并具有很高的升級潛力,。

2,、使用了*的和多用途的x射線資料模式—-采用康普頓常態(tài)化校正方法，可以利用“內(nèi)部標準”來進行定量分析,，而不需要進行專門的校正,。

3、基本參數(shù)分析：采用半定量分析方式,，適合于檢驗各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品,。

4、實驗校正法：利用“校正曲線”進行校正,，允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線,。

5、配備了光譜高點識別軟體,，可在顯示幕查看光譜

6,、對比光譜,，參考內(nèi)置標準完成比較分析,。

地礦行業(yè)應(yīng)用優(yōu)勢
檢測元素：標準配置可檢測30多種元素，同時可按客戶需求增加檢測元素
專業(yè)性：礦石專用版分析軟件,，采用智能一鍵測試
*個性化定制工作模式
多種礦樣模式選擇和無限數(shù)目模式的自由添加,，根據(jù)客戶需求定制工作模式。
*充分挖掘礦山價值

高清攝像頭,，可對被檢測的礦脈或礦點部位進行更直觀的觀察,，并對開采過程進行精確管理和控制,，隨時檢測礦石品位。
*對選礦過程中原礦,、精礦和尾礦等進行精確快速分析,，為礦石品位的測定、礦物貿(mào)易,、加工以及再利用提供價值判定依據(jù),。
*環(huán)境監(jiān)控
對開采礦山周圍土壤中的重金屬進行監(jiān)測和檢測，評估礦山環(huán)境的修復(fù)情況,，最 大限度的監(jiān)測好礦山周邊的環(huán)境,。

主要用途：

手持式礦石分析儀，用于礦業(yè),、地質(zhì),、土壤環(huán)境、底泥,、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測定,。

1.主要配置要求:

1.1 礦石分析儀主機1套；

1.2 標準樣品1個,；

1.3 原裝可充電鋰電池2塊,；

1.4 充電座及電源線；

1.5 U盤(32G)1個,；

1.6 加強型聚丙烯膜5片,；

1.7 標準手提防潮防震箱一只。

技術(shù)參數(shù)及要求

1,、檢測元素：可用于礦石,、土壤環(huán)境中金屬元素，Mg,、Al,、Si、P,、S,、Ti、V,、Cr,、Mn、Fe,、Co,、Ni、Cu,、Zn,、Hf,、Ta、W,、Hg,、Se、Au,、Br,、Pb、Bi,、Zr,、Nb、Mo,、Ag,、Cd、Sn,、Sb,、Re、Ir,、Pt,、Hg、Ru,、Rh,、Pd等元素。（紅色為SDD探測器配置）

2,、探測器：美國Moxtek Si-pin（6 mm2）,、美國Amptek Si-pin（25 mm2）、德國KETEK SDD探測器 

3,、激發(fā)源：大功率微型直板X射線管,，W靶材，4W大功率X射線管,，管電壓50KV,，管電流最 大可達100μA；

4,、采用KMX技術(shù),，更高X射線計數(shù)率，超低電子噪聲設(shè)計,。每次測試前,，不需要外部標樣,，自動能量校準核查,；

5,、濾光片：配置8個濾光片，可根據(jù)測試元素自動切換,；

6,、測試方法：基本參數(shù)法，支持經(jīng)驗系數(shù)法修正

7,、點觸或扣動扳 機控制測試開始,，測試過程無需長扣扳 機。根據(jù)客戶需求,，也可以一直按著扳 機測試樣品,。

8、操作系統(tǒng)：Window CE 6.0操作系統(tǒng),，安全,、放心

9、自診斷功能：儀器可自動對硬件,、軟件,、網(wǎng)絡(luò)、電池等進行診斷,，并會生成日志,，便于快速排查出故障

10、標配模式：礦石模式,；選配模式：合金分析模式,、土壤分析模式