美國Calmetrics標準片Cd純元素無限大 標準片是用來為膜厚測試儀建立標準檔案的,，同時也是檢驗和校準膜厚測試儀測試數(shù)據(jù)是否準確的為一標準。它屬于易損易耗件,，但是其的使用壽命卻與操作方法及存放環(huán)境息息相關(guān),，若操作得當，小心保護且存放在干燥密封的皿器內(nèi),，那么可大大延長其的使用時間,。膜厚標準片是膜厚測試儀（X射線鍍層測厚儀）*的。

美國Calmetrics標準片Cd純元素無限大 實物圖片：

美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件,，提供對標準件的校準服務,，公司通過ISO/IEC 17025認證。公司提供所有證書符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術(shù)研究院）標準或ANSI（American National Standards Institute美國國家標準學會）標準,。其生產(chǎn)的標準片質(zhì)量精良,，精度高、穩(wěn)定性好,。

Calmetrics鍍層標準片適用于費希爾Fischer、韓國ISP,、日立Hitachi（包括：牛津儀器Oxford（CMI）,、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco,、微先鋒Micro Pioneer,、島津、電測,、納優(yōu),、天瑞、華唯等各廠牌的測厚儀,。

X射線測厚儀鍍層標準片一般分為單鍍層片,，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片,、化學鍍層片,。如：單鍍層：Au/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx,，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx,，合金鍍層：Sn-Pb/xx，合金鍍層：Ni-P/xx,。

鍍層標準片適用于X射線類儀器的標準,。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標準件都來自于美國Calmetrics公司。

X射線標準片又叫膜厚儀校準片或者薄膜片,，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案,。

銅 Cu 1μm 膜厚標準片測厚儀標準片又名膜厚儀校準片：

專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,，是測量已知厚度或組成的標準樣品,，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關(guān)系，來得到標準曲線,，之后以此標準曲線來測量未知樣品,，以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB,、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用,。