芯片金球焊點(diǎn)BGA凸點(diǎn)剪切力測試儀擁有多項(xiàng)功能,，應(yīng)用操作中可執(zhí)行芯片器件推拉力和剪切力的測試操作,。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體封裝、光通訊器材件封裝,、LED封裝,、COB/COG工藝測試、軍事,、研究所材料力學(xué)研究,、材料可靠性測試等應(yīng)用領(lǐng)域，是Bond工藝,、SMT工藝,、鍵合工藝等*的動(dòng)態(tài)力學(xué)檢測儀器

芯片金球焊點(diǎn)凸點(diǎn)剪切力測試儀測試類型及相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn):

冷/熱焊凸塊拉力 -JEITA EIAJ ET-7407

BGA凸點(diǎn)剪切 -JEDEC JESD22-B117A

冷焊凸塊拉力 -JEDEC JESD22-B115

金球剪切 -JEDEC JESD22-B116

球焊剪切 -ASTM F1269

引線拉力 -DT/NDT MIL STD 883

芯片剪切 -MIL STD 883§

立柱拉力 -MIL STD 883§

倒裝焊拉力 -JEDEC JESD22-B109

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.廣泛的測試能力

當(dāng)前新興的應(yīng)用為迎合負(fù)載CARTRIDGE和標(biāo)準(zhǔn)及用裝置來進(jìn)行高達(dá)500公斤的剪切測試，高達(dá)100公斤的拉力測試,。高達(dá)50公斤的推力測試,。（非標(biāo)定制）

2.圖像采集系統(tǒng)

快速和簡單的設(shè)置,，安裝在靠近測試頭位置，以幫助更快地測試,。提高了測試自動(dòng)化,。

3.XY平臺(tái)

標(biāo)準(zhǔn)的XY平臺(tái)為160mm，可滿足范圍廣泛的測試需要,。XY平臺(tái)也可定制,。

產(chǎn)品應(yīng)用：

焊帶拉力測試-多種鉤，鉗爪等負(fù)載具可以測試各種尺寸和類型的樣品,。

銅線的焊球拉力測試,，焊釘、柱狀凸塊的拉力測試-定制的拉力鉗爪可以在這項(xiàng)重要的連接處進(jìn)行撕拉力測試,。

拉力剪切力疲勞測試-疲勞分析正成為評(píng)估焊點(diǎn)可靠性中越來越重要的的方式,，調(diào)節(jié)軟、硬件可采用拉力和剪切力兩周模式進(jìn)行老疲勞分析

鈍化層剪切測試–使用軟件和特定負(fù)載具可進(jìn)行焊球剪切力測試,，而不受鈍化層的限制,。         

具體芯片金球焊點(diǎn)BGA凸點(diǎn)剪切力測試儀可以與聯(lián)往檢測設(shè)備聯(lián)系