M5000 PLUS 全譜直讀光譜儀性能優(yōu)勢

科研級CMOS檢測器,，全元素分析，開創(chuàng)PPM級元素分析新紀元

噪聲低 科研級感光元件噪聲小,，抗干擾強，具備防光暈技術

抗干擾 CMOS探測器集成度高,，可避免外部電路引入噪聲

讀取速度快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術,，像素信號單獨讀取，實現(xiàn)參數(shù)優(yōu)化設計

紫外響應高 超高紫外響應靈敏度,，無需鍍膜,，實現(xiàn)非金屬元素（N,C,S,P）分析，效果更優(yōu)

經(jīng)典雙光室設計,，光譜范圍寬,，元素分辨率有保證

獨立設計的紫外光學系統(tǒng)，激發(fā)臺直接采光,，專為N,，C，S,，P等紫外元素測量設計,，刻線數(shù)多，分辨率高,，兼顧高分辨和譜線范圍優(yōu)勢,，譜線范圍寬，分析元素多,，性能好

單獨設計的紫外光學系統(tǒng),，體積小，結構簡單,，*,，采用多孔吹掃技術，可將空氣迅速吹掃干凈,，確保元素分析效果

穩(wěn)定性升級,，重新定義光學產(chǎn)品穩(wěn)定性

壓鑄鋁合金整體光室，4級消除應力處理

光室恒溫設計,，保證光譜位置長期穩(wěn)定,，不漂移

氣流路的精確設計，一切為了結果更穩(wěn)定

RTMC光譜優(yōu)化技術,，帶來更穩(wěn)定的體驗

全數(shù)字脈沖光源,，自動選擇*能量保證分析的準確性與重復性

易用性升級,，給用戶更簡單、高效的使用體驗

優(yōu)質(zhì)硬件與特定算法的結合,，多重穩(wěn)定保障,，更好地監(jiān)控儀器運行狀態(tài)，提升分析效果,，減少校準頻率

支持全譜分析檢測,，拓展性更高。增加分析基體和元素無需增加硬件,，通過軟件即可擴展分析范圍,，使用更靈活

智能曲線功能可滿足對所有材料的分析需求，真正實現(xiàn)未知樣品分析,，無需糾結模型選擇,，操作更加簡便

友好的人機交互設計，軟件主界面簡潔清晰,，圖形化顯示,，短時間即可學會并熟練操作軟件

新增遠程維護功能，可遠程升級固件程序,，遠程檢查儀器狀態(tài),，對儀器生命周期健康負責

M5000 PLUS 全譜直讀光譜儀應用領域

應用于冶金、鑄造,、機械加工,、鑄造、金屬材料科研,、航空航天,、造船、汽車,、海關檢驗,、第三方檢測等諸多領域。