Exicor-System 美國Hinds Instruments
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
- 品牌 Hinds Instruments
- 型號 Exicor-System
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/3/12 10:04:01
- 訪問次數(shù) 2660
產(chǎn)品標(biāo)簽
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,道路/軌道/船舶 |
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概述:
美國Hinds Instruments的Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出,型號為150AT,,為客戶提供技術(shù),,具生產(chǎn)價(jià)值的測量雙折射的能力。
Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是美國Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品,,該技術(shù)推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器(PEM),。PEM的調(diào)制純度增強(qiáng)了Exicor的靈敏度,這是調(diào)制器的諧振特性的結(jié)果,。 PEM的調(diào)制頻率為50 kHz,,提供快速測量功能。
雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與PEM科學(xué)相結(jié)合,,提供了一個(gè)重要特性:光學(xué)系統(tǒng)中沒有移動部件,。 移動部件的缺失產(chǎn)生高機(jī)械可靠性以及測量的可重復(fù)性,并允許同時(shí)測量幅度和角度,。
Exicor測量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲,。 它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向,。
此設(shè)計(jì)減了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件,并避免了在測量角度之間切換的重復(fù)性,。 氦氖激光束被偏振,,然后被PEM調(diào)制。 調(diào)制后的光束通過樣品傳輸并分配一個(gè)分光鏡,。 每束光束通過分析儀,、光學(xué)濾光片和光電探測器的組合。 電子信號通過一個(gè)鎖定放大器處理,,提供非常低的信號檢測,。
由Hinds儀器公司開發(fā)的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。
計(jì)算機(jī)從兩個(gè)輸入中選擇,,允許從兩個(gè)信號通道進(jìn)行連續(xù)測量,。 分析數(shù)據(jù),然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中,。 當(dāng)在自動映射模式下操作時(shí),,x-y平移階段將把樣本移動到下一個(gè)預(yù)定的測量位置。 結(jié)果以用戶確認(rèn)的格式即時(shí)顯示,。
