Exicor® PV-Si 應力雙折射檢測

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
品牌 Hinds Instruments
型號 Exicor® PV-Si
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 代理商
更新時間 2025/3/12 10:06:10
訪問次數(shù) 3378

產(chǎn)品標簽

應力雙折射檢測 hinds instruments 應力儀應力測量應力檢測

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公司介紹 主營產(chǎn)品

北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于 2010 年,，專業(yè)代理歐美（德國,、瑞士、美國,、波蘭等）高精度的光學檢測設備,，致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務,。主要包括：

光學檢測產(chǎn)品：應力雙折射,、折射率、弱吸收,、反射率,、散射等測量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測厚儀/測角儀/可調(diào)相位延遲波片等；

激光檢測產(chǎn)品：激光功率計,、能量計及光束質(zhì)量分析儀等,；

集成系統(tǒng)所需的激光器、步進位移平臺,、偏振光轉(zhuǎn)換器等

顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺,、波片進片機、高速相機ICCD,、像增強器300ps門控時間,、FLIM、高精度脈沖延時器等,。

值得一提的是,，近年來公司科研團隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀，CRD光腔衰蕩法高反測量儀,，偏心曲率測量儀等產(chǎn)品,，為今后的發(fā)展壯大奠定了堅實的基礎。

展開

測角儀,，應力雙折射,，折射率，薄膜弱吸收,，反射率,，GDD檢測設備，波片相位延遲,，剪切

詳細信息 在線詢價

應用領域	醫(yī)療衛(wèi)生,能源,電子/電池,道路/軌道/船舶

　　在硅太陽能電池板的生產(chǎn)過程中,，硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測,，它可以是方形的,，也可以是生長的,，然后被鋸成硅片，當這臺儀器被用作質(zhì)量控制工具時,，在后續(xù)加工成本發(fā)生之前,，可以識別出低質(zhì)量的硅錠或鋼錠。此外,，該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質(zhì)量的工具,，使其能夠生產(chǎn)出較薄的硅片，降低了機械產(chǎn)量損失,。

　　Hinds Instruments 的Exicor® 應力雙折射檢測系統(tǒng)PV-Si是Exicor雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺的擴展,。本系統(tǒng)采用高質(zhì)量的對稱光彈性調(diào)制器、1550 nm激光器和Ge雪崩光電二極管探測器,，實現(xiàn)了光伏和半導體工業(yè)中硅材料的高精度雙折射測量,，除硅外,，還可測量藍寶石,、碳化硅、硒鋅,、鎘等材料,。PV-Si鑄錠模型堅固、通用,，可容納和測量直徑達8英寸的500毫米粗錠,。臺面設計和直觀的自動掃描軟件使該產(chǎn)品成為原材料改進、研發(fā)和日常評估的選擇,，也是對原始硅錠和其他高技術材料進行評估的選擇,。