日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 I

掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術(shù),、生命科學(xué),、產(chǎn)品設(shè)計研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。FlexSEM 1000主機寬450mm,、長640mm,，相比SU1510型號體積減小52%，重量減輕45%，功耗減小50%,，且配備標準化的電源接口,。主機與供電單元可分離，安裝非常靈活,。 近年來,，掃描電鏡觀察表面精細結(jié)構(gòu)及元素分析的需求日趨增加，而越來越多的用戶希望能在生產(chǎn)線,、品保檢驗線和辦公區(qū)等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡,。因此，體積小,、操作簡便,、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機寬450mm,、長640mm，相比SU1510型號體積減小52%,，重量減輕45%,，

此外，還搭載了的導(dǎo)航功能“SEM MAP”,，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點,，實現(xiàn)直觀的視野移動。FlexSEM 1000 II,，憑借設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器,，可在加速電壓20 kV下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。開發(fā)的用戶界面,，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能,，可以在短時間內(nèi)進行各種觀察。

• 的用戶界面,，無論用戶的熟練程度如何,，都可實現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力

• 的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時的視野搜索和樣品定位

• 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型^*1電子顯微鏡,，仍可實現(xiàn)4.0 nm的分辨率

• 憑借*的高靈敏度二次電子,、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD^*2）,，可在低加速/低真空下觀察時實現(xiàn)清晰的畫質(zhì)

• 大直徑（30毫米²）無氮EDS檢測器,，可快速進行元素分析^*2

*1設(shè)置到桌面上時，請將機體與電源盒分離

*2選項