可靠性試驗進(jìn)行介紹：

跌落試驗（

暴露因高低溫沖擊引誘的樣品缺陷

GB/T2423.8-1995

跌落測試機(jī)

）電性能參數(shù)測試：如果被測試樣品為

，參照附錄一進(jìn)行參數(shù)測試,。如果被測試樣品為

,，參照附錄二進(jìn)行參數(shù)測試。

）功能測試：電話,，顯示,、鈴聲、振動,、按鍵,、收話器,、受話器、回音,、指示燈,、拍照、充電,、藍(lán)牙,、

卡以及其它未描述到的功能。

）結(jié)構(gòu)測試：殼體配合,、結(jié)構(gòu)件配合,、天線、

,、顯示屏,、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。

）外觀測試：噴涂,、印刷,、電鍍等，以及未描述到的外觀,。

）內(nèi)存時鐘：樣機(jī)中存中存入

個電話和

條短信息,，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間。

測試方法：

） 樣機(jī)中存中存入

個電話和

條短信息,，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間,。

）將樣機(jī)設(shè)置為開機(jī)插卡狀態(tài)，對手機(jī)進(jìn)行

個面

的自由跌落實驗,，每個面的跌落次數(shù)為

次,，每個面跌落面都要對手機(jī)的外觀、結(jié)構(gòu),、內(nèi)存,、時間和功能進(jìn)行檢查。

）跌落順序為：

）跌落過程中,，對于翻蓋手機(jī),，應(yīng)將一半樣品打開到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態(tài),；對于滑蓋手機(jī)應(yīng)將一半樣品合上滑蓋,，一半樣品將滑蓋打開到上限位置。

）若樣品數(shù)量為奇數(shù),，則多的一臺打開翻蓋或滑開滑蓋,。

）測試條件：跌落高度

，

厚的大理石地板,。（對于

手機(jī),，根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為

手機(jī)外觀,、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時間無異常,。

）參數(shù)測試：與綜測儀連接進(jìn)行參數(shù)測試,，電性能符合測試要求。

）功能檢查：能正常電話,、顯示,、振動、

,、揚聲器、受話器,、回聲,、按鍵、拍照,、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無異常,。

）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、

及

等無脫落,，殼體卡鉤無脫出,、斷裂；

無破裂,；天線無脫出,、脫落；轉(zhuǎn)軸無松動,、錯位,、脫出或斷裂；滑蓋無松動,、脫出,、斷裂、晃動無異響,，

無破裂,、脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；

）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆,，無裂紋,、破損、沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象

）樣品內(nèi)存：時鐘無異常（內(nèi)存無丟失,、時鐘無混亂,、復(fù)位、超前,、滯后等,；

）備注：電池

電池蓋脫落,、關(guān)機(jī)及掉卡等、如重啟無異常,，不記錄為有問題,。

重復(fù)跌落測試（

Micro-Drop Test

）

測試環(huán)境：

20~25

測試目的：

驗證樣品重復(fù)跌落的可靠性

桌面跌落機(jī)

不少于

臺樣機(jī)

）參數(shù)測試：如果被測試樣品為

，參照附錄一進(jìn)行參數(shù)測試,。如果被測試樣品為

,，參照附錄二進(jìn)行參數(shù)測試

）功能測試：電話、顯示,、鈴聲,、振動、按鍵,、收話器,、受話器、回音,、指示燈,、拍照、充電,、藍(lán)牙,、

卡以及其它未描述到的功能

）結(jié)構(gòu)測試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合,、天線,、

、顯示屏,、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)

）外觀測試：噴涂,、印刷、電鍍,，以及其它未描述到的外觀,；

）內(nèi)存時鐘：存入

個電話和

條短信息，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間

測試方法：

）在手機(jī)中預(yù)存入

個電話和

條短信息,，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間,。

）將樣機(jī)設(shè)置為開機(jī)狀態(tài)，插入測試卡,，進(jìn)行

次,，第

次對樣品進(jìn)行功能、結(jié)構(gòu),、外觀,、內(nèi)存及時間的檢查。

）跌落速率為：

次

分鐘。

）跌落高度：

,。

）跌落時一半樣品跌正面,，一半樣品跌背面。

試驗標(biāo)準(zhǔn)：

重復(fù)跌落

50,000

次后,，對樣品進(jìn)行如下檢查

）參數(shù)測試：可與綜測儀建立連接進(jìn)行參數(shù)測試,，手機(jī)參數(shù)應(yīng)符合測試要求

）功能檢查：能正常電話、顯示,、振動,、

、揚聲器,、受話器,、回音、按鍵,、指示燈,、拍照、充電等功能無異常,，無關(guān)機(jī)、掉卡現(xiàn)象以及其它未描述到的功能均正常,。

）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件,、

及

等無脫落，殼體,、卡鉤無脫出,、斷裂；

無破裂,；天線無脫出,、脫落；轉(zhuǎn)軸無松動,、錯位,、脫出或斷裂；滑蓋無松動,、脫出,、斷裂；晃動無異響,；

無破裂,、脫落以及其他與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆,、無裂紋,、破損、沖擊痕以及其他與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

）樣品內(nèi)存：時鐘無異常（內(nèi)存無丟失,；時鐘無混亂,、復(fù)位、超前或滯后等）,；

滾筒跌落測試（

Free Fall Test

）

測試環(huán)境：

室溫（

20-25

℃）

測試目的：

驗證手機(jī)疲勞跌落的可靠性

GB/T 2423.8-1995

 IEC 68-2-32:1990

滾筒跌落測試機(jī)

不少于

臺

1

）參數(shù)測試：如果被測試樣品為

,，參照附錄一進(jìn)行參數(shù)測試。如果被測試樣品為

,，參照附錄二進(jìn)行參數(shù)測試,。

）功能測試：電話，顯示,、鈴聲,、振動、按鍵,、收話器,、受話器、回音,、指示燈,、拍照、充電,、藍(lán)牙,、

卡以及其它未描述到的功能。

）結(jié)構(gòu)測試：殼體配合,、結(jié)構(gòu)件配合,、天線、

,、顯示屏,、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。

）外觀測試：噴涂,、印刷,、電鍍等，以及未描述到的外觀,。

）內(nèi)存時鐘：樣機(jī)中存中存入

個電話和

條短信息,，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間。

測試方法：

1

）將樣機(jī)設(shè)置為開機(jī)不插卡狀態(tài),，樣機(jī)中存入

個電話和

條短信息,，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間。

）將樣品放入滾筒跌落試驗機(jī),，進(jìn)行高度為

的

次隨機(jī)跌落測試,。

）每

次對樣品進(jìn)行功能與結(jié)構(gòu)檢查,，每

次進(jìn)行電性能檢查。

）對于翻蓋手機(jī),，應(yīng)將一半樣品打開到使用位置,，一半樣品閉合為初始狀態(tài)；對于滑蓋手機(jī)應(yīng)將一半樣品合上滑蓋,，一半樣品將滑蓋打開到上限位置,。

測試標(biāo)準(zhǔn)：

手機(jī)外觀、結(jié)構(gòu),、功能及內(nèi)存時間無異常,。

1

）參數(shù)測試：樣品電性能測試合格。

）功能檢查：能正常電話,、顯示,、振動、

,、揚聲器,、受話器、回聲,、按鍵,、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無異常,。

）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件,、

及

等無脫落，殼體卡鉤無脫出,、斷裂；

無破裂,；天線無脫出,、脫落；轉(zhuǎn)軸無松動,、錯位,、脫出或斷裂；滑蓋無松動,、脫出,、斷裂、晃動無異響,，

無破裂,、脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

4

）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆,，無裂紋,、破損、沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

）樣品內(nèi)存：時鐘無異常（內(nèi)存無丟失,、時鐘無混亂,、復(fù)位、超前,、滯后等）

）備注：電池

電池蓋脫落,、關(guān)機(jī)及掉卡等、如重啟無異常,，不記錄為有問題