前沿靈敏度和重復(fù)性

使用Hinds儀器的光彈性調(diào)制器(PEM)技術(shù),，該系統(tǒng)提供高水平雙折射靈敏度。此外,，PEM提供高速操作,，以50千赫的速率進(jìn)行調(diào)制。靈敏度和重復(fù)性很容易提供亞納米級的雙折射測量,，對許多應(yīng)用很重要,。

專為簡單、直接的操作而設(shè)計(jì)

一個大至6“x 6”（可選大尺寸）的光學(xué)樣品可以通過手動或自動映射和圖形顯示進(jìn)行表征,。 一旦將樣本放置在翻譯階段,，直觀的軟件就可以指導(dǎo)操作員完成步驟測量過程。 用戶界面軟件計(jì)算延遲值和快軸角度,，并以各種格式顯示它們,。 該軟件還提供文件管理和校準(zhǔn)功能。

應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)應(yīng)用：

質(zhì)量控制計(jì)量

低水平雙折射測量的有

• 平滑玻璃

• 科學(xué)光學(xué)元件

• 激光晶體

• DVDs

光刻組件的質(zhì)量驗(yàn)證,，包括

• 光掩模

• 熔石英光學(xué)元件

• 氟化鈣鏡片毛坯和窗口

應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)主要特點(diǎn)：

在低水平雙折射測量中具有高靈敏度

同時測量雙折射幅度和角度

準(zhǔn)確度可重復(fù)性

高速測量

光學(xué)系統(tǒng)中無移動部件

可變尺寸光學(xué)元件的自動映

光彈調(diào)制器技術(shù)

簡單,、便于用戶使用的操作

Exicor 150AT測量通過正在研究的光學(xué)樣品的光路上的延遲。它旨在測量和顯示樣品光學(xué)延遲的幅度和快軸取向,。

設(shè)計(jì)丟棄了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件,，并避免了在測量角度之間切換的重復(fù)性。氦氖激光束被偏振然后由PEM調(diào)制,。調(diào)制后的光束透過樣品并由分光鏡分開,。每束光束通過分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測器的組合,。電子信號通過一個鎖定放大器處理,，提供非常低的信號檢測。由Hinds 儀器公司開發(fā)的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù),。計(jì)算機(jī)從兩個輸入中選擇,，允許從兩個信號通道進(jìn)行連續(xù)測量,。分析數(shù)據(jù)，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中,。當(dāng)在自動映射模式下操作時,，x-y平移階段將把樣本移動到下一個預(yù)定的測量位置。結(jié)果以用戶要求的格式即時顯示,。