SNA5000X系列頻譜矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀主要特性：　

　　從S參數(shù)測(cè)試到平衡-不平衡測(cè)試

　　SNA5000X系列支持在多個(gè)窗口添加多條跡線進(jìn)行全4端口S參數(shù)測(cè)試,，并且具備多種顯示格式,，比如LogMag，LinMag,，Phase,，Delay,，Smith,，SWR,，Polar等,，可以方便快捷地分析被測(cè)物的傳輸系數(shù),，反射系數(shù)，駐波比,，阻抗匹配,，相位,，延時(shí)等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗(yàn)證天線,，濾波器等的特性時(shí),，還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進(jìn)行通過(guò)失敗測(cè)試,，有利于提高生產(chǎn)效率,。

　　SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能,，比如在測(cè)試有源差分放大器時(shí),，可將輸入輸出端口進(jìn)行阻抗變換,，從而進(jìn)行差分(平衡)測(cè)量(比如Scc，Sdd,，Scd,，Sdc等參數(shù))。此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測(cè)試,。

　　時(shí)域分析功能

　　SNA5000X系列支持TDR時(shí)域反射計(jì)測(cè)量功能,，可在時(shí)域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時(shí)延等參數(shù)進(jìn)行分析,。

　　眼圖分析

　　SNA5000X搭載了眼圖功能，眼圖可以反映信號(hào)鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號(hào)的整體特征,，從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響,，進(jìn)而估計(jì)系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號(hào)完整性分析的核心,，為需要對(duì)高速信號(hào)進(jìn)行時(shí)域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時(shí)間,。

　　消除夾具效應(yīng)

　　在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測(cè)試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn),。比如在對(duì)SMD器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)需要特定的測(cè)試夾具實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器測(cè)試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接,，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果中包含了測(cè)試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測(cè)試夾具影響的方法主要有：端口延伸,，端口匹配,，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入,，適配器移除等,。