TEM-STM樣品桿系列
- 公司名稱 安徽澤攸科技有限公司
- 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
- 型號
- 產(chǎn)地 北京
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/3/13 14:02:48
- 訪問次數(shù) 4486
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兼容性 | 適配Thermofisher/FEI,、JEOL,、Hitachi透射電鏡 | 功能 | 常溫拉伸 |
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樣品桿傾轉(zhuǎn) | 單傾 |
TEM-STM樣品桿系列
產(chǎn)品介紹
TEM-STM測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,。在進(jìn)行原位操縱的同時利用透射電鏡及相關(guān)附件實時動態(tài)地對樣品的晶體結(jié)構(gòu),、化學(xué)組分、元素價態(tài)進(jìn)行綜合表征,,極大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域,。
產(chǎn)品特色
1.電學(xué)測量指標(biāo)
電流測量范圍: 1 nA - 30 mA,,多個量程
電流分辨率: 優(yōu)于100 fA
電壓輸出范圍:普通模式 ± 10 V,高壓模式 ± 150 V
自動I-V測量,、l-t 測量,,自動保存
可外接第三方源表滿足多種實驗需求
包含一個電流電壓測試單元
2.掃描探針操縱指標(biāo)
粗調(diào)范圍: XY 方向 2.5 mm,Z 方向1.5 mm
細(xì)調(diào)范圍: XY 方向15 μm,,Z 方向1.5 μm
細(xì)調(diào)分辨率: XY 方向0.4 nm,,Z 方向0.04 nm
粗細(xì)調(diào)均為軟件控制
拓展產(chǎn)品
基于TEM-STM測量系統(tǒng),研究人員還可選擇掃描探針與多種外場耦合的原位測量系統(tǒng):
AFM力電測量系統(tǒng) 光電測量系統(tǒng) 低溫電學(xué)測量系統(tǒng)
納牛級力學(xué)傳感器 雙向光纖輸出 液氮低溫制冷
力學(xué)曲線輸出 光電流測量 低溫下電學(xué)測量
力-電同時測量 光譜分析 低溫下力學(xué)操縱
高溫電學(xué)測量系統(tǒng) 高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 多場原位測量系統(tǒng)
芯片式加熱 芯片式加熱 芯片式加熱/加電
熱-電耦合 熱-力耦合 集成雙向光纖
高溫下力學(xué)操縱 力學(xué)曲線輸出 熱-電-力-光多場耦合
應(yīng)用案例
PbTiO3/SrRuO3 界面處的三重極化 電場作用下混合型疇結(jié)構(gòu)到單一型疇結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變
頂點的電場調(diào)控
部分產(chǎn)品精選
原位低溫TEM-STM測量系統(tǒng),、原位MST一體化測量系統(tǒng),、原位真空傳輸TEM-STM測量系統(tǒng)、
原位光學(xué)TEM-STM測量系統(tǒng),、原位雙傾TEM-STM測量系統(tǒng)