FISCHER（菲希爾）XAN120膜厚儀是一臺款現(xiàn)代化桌上X射線光譜儀（EDXRF）,。它特別為快速無損地分析珠寶首飾,、貴金屬而設(shè)計(jì)。這些首飾和貴金屬包括黃白金,，鉑和銀,，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層,。
XAN? 120測量準(zhǔn)確,，使用安全簡便，堅(jiān)固耐用節(jié)省維護(hù)費(fèi)用,。而且,，它符合標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器,，配合快速信號處理系統(tǒng)能達(dá)到*的精確度和非常低的檢測限,。只需短短數(shù)秒鐘,，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定。
無論您想測量未知樣品還是測定未知材料,，XAN? 120 配合優(yōu)異的菲希爾 WinFTM? 運(yùn)行軟件都是您正確的選擇,。
FISCHER（菲希爾）XAN120膜厚儀采用新改進(jìn)的基本參數(shù)法，無論是無標(biāo)準(zhǔn)片測量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測量,，都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測量結(jié)果,。為了簡化樣品放置，X射線源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN? 120 的底部,，從而可以采用射線向上的測量技術(shù),。集成了含十字線、射線位置指示標(biāo)志,、光亮及位置調(diào)節(jié)的視頻顯微系統(tǒng),，將使得樣品的放置和測量定位變得快捷而容易。現(xiàn)在您不再需要調(diào)節(jié)測量臺或是樣品臺——只需放下樣品即可開始測量,。
可測量．單層．雙層,，合金層等多種鍍層 

XDAL,XDVM菲希爾（FISCHER）膜厚儀,XRF鍍層厚度分析儀配創(chuàng)新的X射線光學(xué)系統(tǒng),專門測量極小的面積.電動(dòng)測量臺,高能量解像半導(dǎo)體接收器,四個(gè)電動(dòng)準(zhǔn)直器.自動(dòng)切換，采用激光自動(dòng)對焦,，并配備有Z軸防沖撞傳感器,，可防止在對焦時(shí)造成一起的損壞?？蛇m用于各種樣品，從較厚的樣品（機(jī)械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等 符合標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和 ASTM B 568,。高分辨硅-PIN-接收器,，配合快速信號處理系統(tǒng)能達(dá)到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘,，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定.可測量：單一鍍層：Zn,， Ni，Cr,，Cu,，Ag，Au,，Sn等,。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金,。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金,。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu,，Au/Ag/Ni,，Sn/Cu/Brass,，等等。
雙鍍層,，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic,；Fe。
菲希爾XUL（M）膜厚儀應(yīng)用于.五金,電鍍,端子.連接器.