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LQ-TS-150A 芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊檢測(cè)實(shí)驗(yàn)箱
參考價(jià) | ¥ 65000 |
訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱 東莞市柳沁檢測(cè)儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) LQ-TS-150A
- 產(chǎn)地 東莞
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/11 7:18:24
- 訪問次數(shù) 1777
冷熱沖擊試驗(yàn)箱冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備冷熱沖擊高低溫箱冷熱溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)冷熱沖擊式
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高低溫試驗(yàn)箱,、恒溫恒濕試驗(yàn)箱,、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、紫外線老化試驗(yàn)箱,、氙燈老化試驗(yàn)箱,、快速升降溫試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱,、砂塵試驗(yàn)箱,、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室、高溫老化房,、真空及無塵干燥試驗(yàn)箱,、鹽水噴霧試驗(yàn)箱、跌落試驗(yàn)機(jī),、電磁振動(dòng)臺(tái)等各類環(huán)境儀器和力學(xué)試驗(yàn)設(shè)備,。
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,農(nóng)林牧漁,電子/電池,航空航天,汽車及零部件 |
芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊檢測(cè)實(shí)驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn):
1、GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件2,、GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件3,、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備4、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 《低溫試驗(yàn)方法Ab》5,、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 《高溫試驗(yàn)方法Bb》
6,、GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
7、GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)
8,、GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)
芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊檢測(cè)實(shí)驗(yàn)箱性能參數(shù)參考如下:
一,、低溫沖擊可選擇溫度范圍:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(廠家還免費(fèi)配高溫至150度)。
二,、溫度偏差:±2℃,。
三、溫度波動(dòng)度:±0.5℃,。
四,、溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min。
五,、溫度恢復(fù)條件:高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min,。
六,、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式:采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。
七,、高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間:30min (+25℃~+200℃),。
八、低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間:65min (+25℃~-75℃),。
九,、低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)|低溫沖擊機(jī)|沖擊試驗(yàn)機(jī)工作時(shí)的噪音:(dB)≤65( 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定≤65分貝不算噪音)
十、型號(hào) 內(nèi)箱尺寸(mm) 外箱尺寸(mm) 功率(kw)
LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5
LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0
LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0
LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0
LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0
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