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飛馳(北京)科學(xué)儀器有限公司

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BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

參考價(jià) 1000000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 丹東百特儀器有限公司
  • 品牌 Bettersize/百特
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地 中國(guó)丹東
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2025/2/28 18:35:54
  • 訪問次數(shù) 4176

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丹東百特儀器有限公司成立于1995年,,經(jīng)過近三十年的持續(xù)創(chuàng)新和誠(chéng)信經(jīng)營(yíng),,百特已經(jīng)發(fā)展成為業(yè)界受歡迎的粒度粒形儀器和技術(shù)提供商,百特儀器和技術(shù)正在成為國(guó)內(nèi)外材料學(xué)專家,、應(yīng)用工程師和廣大科研工作者進(jìn)行粒度粒形分析的新選擇,。


百特儀器和技術(shù)對(duì)納米、微米和毫米級(jí)材料,,都能得到真實(shí)準(zhǔn)確的粒度粒形和物理特性分析結(jié)果,。支撐這些分析的儀器包括百特激光粒度儀、圖像粒度粒形分析儀、納米粒度及Zeta電位分析儀,、沉降粒度儀,、粉體綜合特性測(cè)試儀等;支撐這些分析的技術(shù)包括98項(xiàng)專有技術(shù)(其中發(fā)明23項(xiàng)),,27項(xiàng)軟件著作權(quán),,140多項(xiàng)儀器制造專有技術(shù)和300多項(xiàng)質(zhì)量工作規(guī)范等。此外,,百特頂級(jí)應(yīng)用專家和幾十位服務(wù)工程師提供專業(yè),、周到的服務(wù)支持,使百特儀器具有業(yè)界先進(jìn)的技術(shù)內(nèi)涵,。不僅如此,,百特儀器受到用戶的青睞,還在于它的堅(jiān)固耐用,、低故障率和一鍵式操作等高品質(zhì)特質(zhì),,每一臺(tái)儀器都是百特人經(jīng)過幾十道工序精心打造而來,包含著百特人的夢(mèng)想,、智慧和精益求精的工匠精神,。


簡(jiǎn)而言之,百特是一家“誠(chéng)實(shí)守信+創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)+工匠精神+服務(wù)用戶”的公司,。百特公司是國(guó)家高新技術(shù)企業(yè),、國(guó)家專精特新“小巨人”企業(yè)、遼寧省軟件企業(yè),、遼寧省守合同重信譽(yù)企業(yè),。百特研發(fā)中心還是遼寧省高性能儀器儀表專業(yè)技術(shù)創(chuàng)新中心、企業(yè)技術(shù)中心和工業(yè)設(shè)計(jì)中心,;百特儀器不僅銷售到全國(guó)34個(gè)省市區(qū),,還出口到德國(guó)、美國(guó),、韓國(guó),、印度、越南,、巴西,、俄羅斯等90多個(gè)國(guó)家和地區(qū);截止2023年,,百特儀器的國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)保有量超過23000臺(tái),,是世界粒度粒形儀器市場(chǎng)保有量最多的品牌之一。


一個(gè)粒度粒形儀器市場(chǎng)保有量超兩萬(wàn)臺(tái)的公司,,一個(gè)每年新增一千多家用戶的公司,,足以說明這個(gè)公司值得信賴,產(chǎn)品物超所值。如果您能到百特實(shí)地考察,,將會(huì)有更多的發(fā)現(xiàn)和收獲,。


百特是中國(guó)制造的具有國(guó)際水平的粒度粒形分析儀器品牌。





粒度儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,沉降粒度儀,圖像粒度分布儀,粉體綜合特性測(cè)試儀,環(huán)境顆粒物采樣器

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油


產(chǎn)品介紹

BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),。該系統(tǒng)中集成了背向動(dòng)態(tài)光散射 DLS,、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布,,Zeta 電位,,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué),、化工,、生物、制藥,、食品,、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀


基本性能指標(biāo)

粒徑檢測(cè)

  粒徑范圍  0.3 nm – 10 μm 
  最小樣品量  40 μL
  檢測(cè)角度  173 ° + 12°
  分析算法  Cumulants,、通用模式,、CONTIN、NNLS

Zeta電位測(cè)試

  檢測(cè)角度  12°
  Zeta范圍  無實(shí)際限制
  電泳遷移率范圍  >±20 μ.cm/V.s
  電導(dǎo)率范圍  0 - 260 mS/cm
  Zeta測(cè)試粒徑范圍  2 nm – >120 μm  

分子量測(cè)試

  分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da    

微流變測(cè)試

  測(cè)試能力  均方位移,、復(fù)數(shù)模量,、彈性模量、粘性模量,、蠕變?nèi)崃?nbsp;

趨勢(shì)測(cè)試

  模式  時(shí)間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

  溫控范圍  -15°C - 120°C
  冷凝控制  干燥空氣或者氮?dú)?/span>
  標(biāo)準(zhǔn)激光光源  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm
  相關(guān)器  快,、中,、慢多模式,最快25 ns采樣,,最多 4000通道,,1011動(dòng)態(tài)線性范圍
  檢測(cè)器  APD (高性能雪崩光電二極管)
  光強(qiáng)控制  0.0001%  - 100%,手動(dòng)或者自動(dòng)  










檢測(cè)參數(shù)

動(dòng)態(tài)光散射

●流體力學(xué)尺寸 Dh

●分布系數(shù) PD.I

●擴(kuò)散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 kd

●顆粒體系的光強(qiáng),、體積,、面積和數(shù)量分布

●計(jì)算分子量

●溶液粘度和折射率

●流變學(xué)信息G*,G‘,,G“,,η*,J


電泳光散射

●Zeta電位及其分布

●帶電顆粒的電泳遷移率


趨勢(shì)測(cè)試

● Zeta電位和粒徑的pH滴定

● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試


靜態(tài)光散射

● 絕對(duì)分子量Mn,、Mw,、Mz

● 分子量分布

● 第二維利系數(shù)A2



選配件

● 動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式

BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離,,依次流出,。通過檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào),并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào),,得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布,、分子量分布信息。


BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

 

● BAT-1自動(dòng)滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性,,尤其是環(huán)境pH,,不但影響Zeta電位的大小,而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào),。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用,,內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,,可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試,,具有測(cè)試效率高、精確定量,、重復(fù)性好,、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,,避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn),。


BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

 

● BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過檢測(cè)得到樣品隨空間分布,、時(shí)間,、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息,。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,,從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間,,縮短配方研制周期,。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因,。


BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀 

●  0°光電模塊

0°PD+CMOS模塊,,分散液折射率,,沉降法粒度和顆粒物濃度測(cè)試,。




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