高低溫濕熱試驗(yàn)箱是為了滿足用戶對(duì)大容積試驗(yàn)空間的要求而設(shè)計(jì)的,，它從結(jié)構(gòu)上可分為整體焊接式和拼裝式,。其中，僅拼裝式就有三十多種尺寸規(guī)格和十六種制冷機(jī)組可以互相搭配,。如果這些仍不能滿足您的要求,，公司可以為您專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)?？捎脕?lái)測(cè)試大部件,、組件和整機(jī)產(chǎn)品，從計(jì)算機(jī),、復(fù)印機(jī)到車(chē)輛和機(jī)器,，也可以作為一個(gè)試驗(yàn)環(huán)境來(lái)測(cè)試食品、藥品的儲(chǔ)藏壽命,。

　　這些產(chǎn)品工作室容積從4m3到260m3,溫度范圍從-70℃~+200℃（250℃）,相對(duì)濕度從30%R.H~98%R.H.控制器從微芯片LED顯示器到PLC可編程邏輯控制儀觸摸屏顯示器,，及遠(yuǎn)程集中控制系統(tǒng)。這些都可按客戶要求專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)與制造,。

　　高低溫濕熱試驗(yàn)箱應(yīng)用：

　　溫度循環(huán)試驗(yàn)

　　步入式試驗(yàn)室的溫變速率可以達(dá)到所需環(huán)境和應(yīng)力篩選試驗(yàn)的要求,。

　　儲(chǔ)藏和運(yùn)輸試驗(yàn)

　　步入式試驗(yàn)室可以模擬你的產(chǎn)品在儲(chǔ)藏和運(yùn)輸時(shí)的環(huán)境，從而檢測(cè)產(chǎn)品的性能。

　　電子器件的檢測(cè)試驗(yàn)

　　步入式試驗(yàn)室可以通過(guò)模擬惡劣的環(huán)境來(lái)檢測(cè)電子產(chǎn)品的可靠性,。例如在低濕的條件下,，來(lái)檢測(cè)靜電對(duì)產(chǎn)品的影響，在高溫的條件下檢測(cè)產(chǎn)品是否有短路現(xiàn)象,。

　　汽車(chē)試驗(yàn)

　　在步入式試驗(yàn)室中可以模擬不同的環(huán)境,，對(duì)汽車(chē)整車(chē)和零部件進(jìn)行測(cè)試，從而對(duì)汽車(chē)的性能和使用壽命做出正確的評(píng)估,。

　　高低溫濕熱試驗(yàn)箱滿足以下標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

　　GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

　　GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

　　GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）

　　GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

　　GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)

　　GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)

　　GJB 150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：濕熱試驗(yàn)