OmniScan MX ECA/ECT 便攜式電渦流裂紋探傷儀
- 公司名稱 增宜檢測技術(shù)（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 OmniScan MX ECA/ECT
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2021/9/1 22:33:39
- 訪問次數(shù) 1928
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增宜檢測技術(shù)（上海）有限公司是一家專注于無損檢測設備,，理化分析計量儀器，實驗室科研器材銷售及服務的一站式集成供應商,。公司代理許多上享譽*的先進產(chǎn)品,。
我們提供的工業(yè)產(chǎn)品包括超聲波檢測儀、渦流儀,、激光間隙測量儀,、X射線機、平板探測器,、磁粉探傷機,、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測儀器,、泄漏儀,、內(nèi)窺鏡、顯微鏡,、硬度計,、合金光譜儀、金相分析儀,、紅外熱像儀及其它實驗室試驗檢測設備,。
我們的產(chǎn)品廣泛應用于造船、汽車,、鐵路,、航空、石化,、冶金,、風電、核工業(yè),、軍工,、特檢和高校科研等多個行業(yè)領域,，并贏得了廣大用戶的良好口碑,。
公司秉承“至信卓業(yè)，客戶至上”的經(jīng)營宗旨,，崇尚“專業(yè),，高效，共贏”的服務理念,，為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,，優(yōu)質(zhì)的服務,。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。
主要代理如下公司產(chǎn)品：
奧林巴斯測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/光譜儀
Third Dimension英國三維激光間隙測量儀
ZETEC探傷儀
GE美國通用電氣測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/射線機
萬睿視平板探測器/管頭
Eddyfi & M2M探傷儀
美國磁通磁粉滲透
Eddyfi & M2M探傷儀
奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2,，英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測量儀,，美國萬睿視Varex射線數(shù)字平板探測器，奧林巴斯超聲波探傷儀,，奧林巴斯渦流探傷儀,，內(nèi)窺鏡，元素分析儀,，美國磁粉滲透
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工 |
OmniScan MX是一款已經(jīng)現(xiàn)場驗證,、性能可靠的儀器,，其機身結(jié)構(gòu)堅固耐用，可以在嚴酷,、惡劣的檢測環(huán)境中正常工作,；現(xiàn)在世界上正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬臺。這款儀器緊湊,、輕巧,，使用兩節(jié)鋰離子電池供電，在電池滿電量時,，可以進行長達6小時的手動或半自動檢測,。
OmniScan MX便攜式電渦流裂紋探傷儀儀器的8.4英寸顯示屏可以實時顯示高清彩色圖像，在大多數(shù)光線條件下,，操作人員都可以查看缺陷及其細微情況,。用戶可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡潔、直觀的界面上輕松瀏覽,，也可以將USB鼠標連接到儀器,，方便對檢測數(shù)據(jù)進行分析。
為了滿足更廣泛應用的要求，兩款模塊都提供渦流檢測（ECT）,、渦流陣列（ECA）以及粘接檢測（BT）C掃描技術(shù),。兩款模塊都與MXE（ECT/ECA）和MXB（BT C掃描）軟件兼容；要做到這點,，只需在各種技術(shù)之間進行簡單轉(zhuǎn)換,，操作人員接受少許培訓即可。
ECA與ECT別無二致
覆蓋范圍廣,，掃查速度快,，檢出概率高
渦流陣列 (ECA) 技術(shù)融合了多種傳統(tǒng)的橋式或反射式（驅(qū)動器-拾波器）探頭線圈,，以便在一次掃查檢測中覆蓋更大的范圍。此外,，每款ECA探頭型號都經(jīng)過精心設計,，可在沿探頭長度方向上的目標缺陷范圍內(nèi)保持很高的檢出率。用戶在使用OmniScan MX ECA探傷儀時,，可以非?？斓乃俣仁謩右苿覧CA探頭進行檢測，并借助彩色圖像和歸檔功能,，完成性能強大,、效率很高的檢測。
單線圈：光柵掃查
透過薄涂層進行檢測
渦流檢測（ECT）技術(shù)基于以下磁耦合工作原理：接近被測工件（鐵磁性或非鐵磁性的導電材料）的探頭傳感器（線圈）在被測工件中產(chǎn)生渦流,，并在儀器的阻抗圖中顯示信號,。使用渦流技術(shù)時，只要探頭到金屬的距離保持在合理的近距離范圍內(nèi),，一般為0.5毫米到2.0毫米,，就可以透過薄涂層（如：漆層）探測到材料中的缺陷。
渦流陣列（ECA）和渦流檢測（ECT）技術(shù)基于相同的基本原理（和物理學理論）,，因此也可以透過漆層進行檢測,，而且ECA技術(shù)還具有以下優(yōu)勢：覆蓋范圍大、掃查速度快,、檢出概率高,，及可進行彩色成像。
交流電流在所選的頻率下通過線圈,，在線圈周圍產(chǎn)生磁場,。
當線圈靠近導電材料時，材料中產(chǎn)生感應渦流,。
如果導電材料中的缺陷干擾了渦流的流通,，則探頭的磁耦合效果會發(fā)生改變。通過測量線圈的阻抗變化,，可以解讀缺陷信號,。
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