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致遠ZLG LAB6052邏輯分析儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 上海堅融實業(yè)有限公司
  • 品牌 ZLG/致遠電子
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2024/8/20 14:25:23
  • 訪問次數(shù) 2475

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專業(yè)儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(上海)測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,,專注工業(yè)測試行業(yè)十六年,,志在破舊立新!填BU進口儀器設備大多數(shù)廠家僅在國內(nèi)設銷售點,,但技術支持薄弱甚至沒有,,而代理經(jīng)銷商也只做商務,不做售前技術支持/測試方案和售后使用培訓/維修校準的空白,。我們的技術型銷售均為本科以上學歷,,且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗,以我們先進獨TE的經(jīng)營理念,,與客戶互惠互利合作雙贏,,重在協(xié)助用戶采購與技術工程師的工作,提供具競爭力的供應鏈管理與售前售后技術支持,。十六年精耕細作于儀器設備售前演示實測,、測試方案應用、技術使用培訓及售后維修服務,。


經(jīng)營品牌及產(chǎn)品:

一,、測試技術方案【我們根據(jù)用戶實際應用,撰寫有上百篇技術測試應用文章】:

USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I2C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xié)議測試,、半導體I-V測試,、表面電阻/體積電阻率、靜電壓/離子消散衰減,、介電常數(shù)/電導率/阻抗分析,、GaN/SiC/IGBT特性分析、IoT低功耗,、材料耐壓絕緣電阻漏電流,、ESD靜電放電/EMC電磁/雷擊浪涌、材料高低溫/冷熱沖擊試驗,、大眾VW80000/ISO16750標準測試,、材料切割鑲樣磨拋金相分析......


二、環(huán)境可靠性試驗/拉力試驗/幾何精密測量/機器人手臂:

愛斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱,、

高低溫試驗箱,、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱,、鹽霧箱,。沖擊跌落機、振動臺,、英斯特朗INSTRON拉力試驗機,。海克斯康HEXAGON/蔡司ZEISS/法如FARO三坐標測量儀/智能機械人手臂,。


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四、電子測量儀器:

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五,、生物制藥化學實驗儀器/傳感器:

賽默飛Thermo元素分析儀,、博勒飛BrookField粘度計、安捷倫Agilent色譜/質(zhì)譜/光譜儀,、萬通Metrohm滴定儀,、電化學工作站、梅特勒METTLER/威卡WIKA壓力/流量/PH/溶氧/電導率傳感器,,天平,。艾卡IKA/Sartorius發(fā)酵罐、水分儀,。愛色麗X-rite/美能達Minolta色彩分析儀,、光度/亮度/照度計,。COSMOS潤滑油鐵粉濃度計。


六,、金相設備耗材:

賀利氏Heraeus/司特爾Struers/標樂Buehler切割機,、研磨拋光機、鑲嵌機,、顯微鏡,、硬度計。



     企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實際測試使用撰寫有《芯片集成電路I2C,、SPI測試》,、《存儲器SD4.1、eMMC5.1測試》,、《電腦周邊USB3.0,、UART測試》、《CAN,、LIN,、FlexRay、SENT汽車電子總線測試》,、《MVB,、WTB總線軌道交通測試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測試》,、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測試》,、《GB/T國標、ANSI/ASTM美標之材料表面電阻和體積電阻率測試方案》,、《防靜電地板/臺面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測試》,、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標準靜電消散測試》,、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡分析儀之介電常數(shù),、電導率測試評估》、《6517B與B2985A高阻表測量電阻/體積電阻率》,、《新材料先進半導體微電流/微電阻/低噪聲測試》,、《循環(huán)伏安法CV電化學實驗系統(tǒng)工作站測量線性掃描伏安特性CV、電流-時間曲線I-t,、電勢,、電沉積、電阻率》,、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關的霍爾效應與范德堡測試》,、《MOSFET/CMOS/IGBT半導體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預測試》,、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號采集/射頻微波測試》,、《音視頻綜合測試分析》、《Wi-Fi/藍牙Bluetooth/LTE/GPS測試》,、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導抗擾/ISO16750電源故障模擬標準測試》,、《鑲嵌機、磨拋機在電子零部件中的應用》,、《Agilent34970A,,KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導材料,,繼電器開關,,汽車電子連接器微小電阻測試》、《靜電電量Static Charge電荷庫侖Coulomb測試方案》,、《基于KEITHLEY6514靜電計,,DMM7510圖形萬用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機實驗》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流,,二極管暗電流測試》,、《基于KEITHLEY2460-EC電化學工作站/恒電位測試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測試》,、《半導體材料SiC,,GaN等電流/電壓特性分析和功能測試》、《光電子/納米電子器件測試》,、《LED照明測試》,、《OLED,TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測試》,、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設備低功耗測試》,、《大功率編程電源/負載的太陽能光伏、新能源汽車,、充電樁,、燃料電池測試》、《機電/材料/生物醫(yī)學/汽車電子云熱像》,、《ABS防抱死制動系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊,、TPMS胎壓監(jiān)測測試系統(tǒng)》,、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強度試驗》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗》,、符合IEC61215,、IEC61730光伏標準耐壓測試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強度和耐電壓測定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機械電氣設備耐壓試驗規(guī)范》,、《基于GB/T,、IECEN,、UL,、VDEJIS等各國安全規(guī)范要求》,、《符合IEC,、JIS、UL各類標準的醫(yī)療器械泄漏電流測試》,、《燈具/開關插座/EV充電樁接地電阻測試》,、《干濕球、不飽和,、濕潤飽和模式高壓加速老化試驗》,、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗》,、《樹脂,、涂料、油漆,、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術測試應用解決方案文章,,為工業(yè)測試行業(yè)做出了我們應有的貢獻。

     堅忍不拔 圓融通達 是我們秉承的理念,,嚶其鳴矣 求其友聲,,我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠共贏合作,為祖國測試行業(yè)“添磚加瓦”,!


上海堅融實業(yè).jpg

IMG_2472.JPG

上海堅融實業(yè)-營業(yè)執(zhí)照副本掃描件.png

堅友測量儀器營業(yè)執(zhí)照.jpg

TUV認證.jpg

代理授權(quán)證/技術培訓證:

用戶培訓:





總線測試協(xié)議解碼邏輯分析儀,,靜電阻/靜電場測試儀,源表,,干燥箱烘箱,,高低溫恒溫恒濕試驗箱,LCR阻抗分析儀,,示波器,,頻譜儀,耐壓絕緣電阻測試儀

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應用領域 電子

專業(yè)儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(上海)測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,,為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術經(jīng)理-堅JET與吉時利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦,,專注工業(yè)測試領域十六年,志在破舊立新,!*進口儀器設備大多數(shù)廠家僅在國內(nèi)設銷售點,,但技術支持薄弱甚至沒有,而代理經(jīng)銷商也只做商務,不做售前技術支持/測試方案和售后使用培訓/維修校準的空白,。我們的技術型銷售均為本科以上學歷,,且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗,以我們*進*的經(jīng)營理念,,與客戶互惠互利合作雙贏,,重在協(xié)助用戶采購與技術工程師的工作,提供較有競爭力的供應鏈管理與售前售后技術支持,。堅融實業(yè)——一家致力于為祖國用戶提供致遠ZLG LAB6052邏輯分析儀儀器設備,、測試方案、技術培訓,、維修計量全面服務的儀器設備綜合服務商,。


產(chǎn)品型號 致遠電子周立功ZLG LAB7504邏輯分析儀致遠ZLG LAB6052邏輯分析儀,,LA2832A plus 致遠電子周立功ZLG LA2832A邏輯分析儀

存儲容量(bits) 2G,, 1G, 1G,, 512M

存儲深度(bits/CH) 64M/128M(半通道),, 32M, 64M,, 32M 

高速定時采樣率 5GHz,,-- ,-- ,,--,, --

分段存儲(段數(shù)) --, --,,65536,,32768

定時采樣率 500MHz/1GHz(半通道), 500MHz,, 200MHz,, 200MHz

狀態(tài)采樣率 250MHz ,250MHz ,,80MHz ,,80MHz

頻寬 250MHz, 250MHz,, 80MHz,, 80MHz

輸入通道 34CH ,32CH ,,32CH ,32CH

記錄模式 -- ,-- ,,支持,, 支持

通道復用 32CH/16CH, -- ,,32CH

壓縮存儲 支持,, 支持

頻率計 支持2路 ,支持32路

邏輯筆 支持,, 支持32路

外部觸發(fā) 支持觸發(fā)輸出,、輸入, 支持觸發(fā)輸出,、輸入

輸入范圍 -30V~+30V,, -30V~+30V

探頭參數(shù) 100KΩ/15pF ,1MΩ/15pF

門限電壓 -10~+10V,, -6~+6V

供電電源 DC 12V@2A(內(nèi)正外負) ,,DC 5V@1A(內(nèi)正外負)

協(xié)議解碼選型: 邏輯分析儀協(xié)議類型選型總覽表



1. 如何選擇邏輯分析儀

邏輯分析儀是一種類似于示波器的波形測試設備,它是用于監(jiān)測硬件電路工作時的邏輯電平,,并加以存儲,, 用圖形的方式直觀地表達出來,便于用戶檢測,、 分析電路設計(硬件設計和軟件設計) 中的錯誤,。 邏輯分析儀是設計特別是數(shù)字設計中*的設備,通過它,,

可以迅速地定位錯誤,,解決問題,達到事半功倍的效果,。

相對于示波器,, 邏輯分析儀往往給人有以下的感覺:

1. 操作復雜, 對使用者的要求高,;

2. 與示波器功能差不多,;

3. 價格昂貴。

其實不然,,邏輯分析儀在近的幾年中隨著數(shù)字電路的廣泛使用發(fā)展迅速,,已經(jīng)成為很多電子開發(fā)公司的必選設備之一。

邏輯分析儀的重要指標有輸入通道數(shù),、定時采樣率,、狀態(tài)采樣率、存儲容量,、觸發(fā)方式,、分析功能,、其他功能等。表 1 為廣州致遠電子有限公司出品邏輯分析儀的主要選型參數(shù),,也是邏輯分析儀的重要選型指標,。


采樣通道數(shù)

在需要邏輯分析儀的地方,要對一個系統(tǒng)進行全面地分析,, 邏輯分析儀的通道數(shù)至少應當足以把所有需要觀測的信號全部引入邏輯分析儀當中,。

定時采樣率

在定時采樣分析時,要有足夠的定時分辨率,,就應當有足夠高的定時分析采樣速率,,但并不是只有高速系統(tǒng)才需要高的采樣速率。如果采樣頻率高,,則可以看見更加精細的結(jié)果,。

像 LAB7504 邏輯分析儀擁有 5GHz 的定時采樣率,對信號間的時間分辨率高達 200ps,,*現(xiàn)代器件 ns 級的測量,。

狀態(tài)采樣率

在進行狀態(tài)分析時,邏輯分析儀采樣時鐘使用外部輸入時鐘,,在外部時鐘的驅(qū)動下進行數(shù)據(jù)存儲,。外部輸入時鐘的高頻率決定了邏輯分析儀的高狀態(tài)采樣率。 LAB7000 和LAB6000 系列邏輯分析儀除了擁有標準的狀態(tài)采樣模式外,,還擁有帶時間戳的狀態(tài)采樣模

式,。帶時間戳的狀態(tài)采樣模式讓用戶不但可以觀察到不同的輸入狀態(tài),更加可以測每個輸入狀態(tài)與外部同步時鐘之間的關系,。

存儲容量

存儲容量是指邏輯分析儀能夠連續(xù)保存采樣點的數(shù)量,,直接一點說,就是邏輯分析儀能夠測量多長時間的波形,。存儲容量越大能夠觀察的時間就越長,,但由于高速存儲器的價格都比較高,所以存儲容量越大相應的邏輯分析儀價格就越高,。 LAB7000,、 LAB6000、 LA2000A

系列邏輯分析儀*的 Timing-State 模式可以很好的自動平衡存儲容量,、觀測時間和測量精度的三者關系,,運用 Timing-State 技術可以使邏輯分析儀在相同的存儲容量下同時具有很高測量精度和更長的觀測時間。

觸發(fā)方式

相比示波器,,邏輯分析儀提供了豐富的觸發(fā)模式,。除去邊緣觸發(fā)外,邏輯分析儀一般都具有針對總線范圍,、總線間關系,、事件次數(shù)等觸發(fā)方式,。 LAB7000、 LAB6000,、 LA2000A系列邏輯分析儀還可以對數(shù)據(jù)進行范圍,、 =、,! =、 >,、 <等比較。同時,, LAB7000,、 LAB6000、

LA2000A 系列邏輯分析儀提供可視觸發(fā),、協(xié)議觸發(fā),、插件觸發(fā)、用戶自定義觸發(fā),、高速 SPI觸發(fā)等多種觸發(fā)方式,。

分析功能

分析功能是邏輯分析儀的大亮點,也是邏輯分析儀區(qū)別于其他儀器的重要指標,。邏輯分析儀對輸入信號進行時序和狀態(tài)的分析,。廣州致遠電子有限公司出品的邏輯分析儀可以更進一步的提供針對 I2C,、 SPI、 UART,、 ModBus,、 1-Wire 等總線分析和 SD 卡、 CF 卡等高層

協(xié)議的分析,,針對處理器的反匯編分析等功能,。

其他功能

廣州致遠電子有限公司出品的邏輯分析儀提出了數(shù)字電路測量平臺的概念,,在設計之初就融入了頻率計,、邏輯筆、總線分析儀,、協(xié)議分析儀等功能,,用戶在一個軟件界面上實現(xiàn)同時對多種測量的觀察,一機多用,,省去用戶重復投資,。廣州致遠電子有限公司


2. 解答邏輯分析儀使用過程中的常見問題解答

2.1 邏輯分析儀處于離線狀態(tài)

如果在硬件連接及軟件安裝都完成后, 將邏輯分析儀的電源接好,,并用 USB 線將分析儀和電腦連接,,此時如果邏輯分析儀處于離線狀態(tài), 原因可能有以下三種:

一是供電不足,,電源線沒有接好或者是沒有打開電源按鈕,;

二是硬件連接問題, 請檢查 USB 線是否有問題或者 USB 線是否連接正常,。

三是 USB 驅(qū)動安裝有問題,。 在 我的電腦→右擊屬性→硬件→設備管理器,在通用串行

總線控制器列表中尋找 zlglogic 設備,,如果沒有此設備則證明確實是以上所陳述的兩種原因,。

如果發(fā)現(xiàn)有一個前面打問號的 zlglogic 設備,則說明肯定是驅(qū)動沒有安裝好,,此時的解決方法是進行強制驅(qū)動安裝,,您可在我們的網(wǎng)站上下載強制驅(qū)動安裝文件并進行手動安裝。

四還是供電不足的問題,,如果在設備管理器里查看設備的時候可以看到這個設備,,而且前面沒有問號,那就有可能是供電不足的問題,,此時插上電源適配器,,看是否在線。

五是軟件被攔截,。如果以上四個原因都已經(jīng)排除,, 則有可能是殺毒軟件或者防火墻軟件等高安全系數(shù)將邏輯分析儀的軟件攔截了。將此類軟件先禁用,,看問題是否可以解決,。

六, 臺式機前面的 USB 口和后面的 USB 口的信號完整性不同,,如果問題無法解決就換到后面的 USB 口試試,,因為后面的 USB 口是直接從主板上引出來的。

2.2 采集不到數(shù)據(jù)或者采集到錯誤數(shù)據(jù)

若邏輯分析儀已經(jīng)處于在線狀態(tài)情況下,, 信號線卻沒有任何反應,,則首先應檢查測量線是否已經(jīng)連接在有信號的被測信號上,如果確定有輸入的信號,,則應該檢查接地是否良好,,常常會因為沒有接地良好,,后導致信號無法正常采集。 甚至有時候被采集系統(tǒng)已經(jīng)斷電了,,

但邏輯分析儀仍然采集到了數(shù)據(jù),,這也是因為地線沒有接好。所以信號采集出現(xiàn)問題時應首先檢查地線是否接好,。

2.3 邏輯分析儀測量線在懸空時測得的數(shù)據(jù)

邏輯分析儀(除 LA5034)的測量線在懸空(即不接任何負載)的情況下,,測得的信號將是高電平。而 LA5034 的測量線在懸空時,。測得的信號電平的狀態(tài)跟門限電壓的設置相關,,處于不定態(tài)。

2.4 邏輯分析儀通道有電壓輸出,,會不會影響設備?

用萬用表測量邏輯分析儀測量通道的輸出,,有 2.6V 左右的電壓,,會不會對設備提供上拉并造成影響?

問題解答: 邏輯分析儀的測量通道直接接到高速比較器輸入端,,有可能由于比較器存在漏電流而產(chǎn)生漏電壓,。

通過仔細測試,結(jié)果如下: A,、 B 口對外的電壓是高速比較器的漏電流產(chǎn)生的,,有 5uA左右的電流,這個漏電流在業(yè)界已經(jīng)很小,, 經(jīng)測量,,邏輯分析儀正向輸入電阻為 50M,反向輸入電阻為 5M,。只要被測對象的輸出內(nèi)阻小于 500K 就不會對被測對象造成任何影響,。

因為萬用表的輸入阻抗大概有 10M 左右,所以能夠測量出電壓,。一般我們設備輸出電阻都是很小的,,如一個 5V 的 TTL 器件,其輸出電流一般有 10mA~20mA 以上,,輸出電阻為5V/10mA=500 歐姆以下,,只要你的輸出電流能夠大于 5uA 就不會對你的設備造成影響,所廣州致遠電子有限公司


以對于一般的應用不會造成影響的,。

2.5 邏輯分析儀在使用 Timing_state 模式時不能將 32 根測量線全部接入

由于在使用 Timing_state 模式時,,有一根測量線是用來存儲壓縮數(shù)據(jù)的,所以在使用Timing_state 模式時,,多只能使用 31 根測量線,。

2.6 軟件觸發(fā)對話框出現(xiàn)亂碼

安裝完軟件后在觸發(fā)設置菜單里面出現(xiàn)亂碼,,如下圖所示。

問題解答: 在觸發(fā)設置窗口區(qū)域內(nèi)點擊鼠標右鍵,,選擇“編碼→簡體中文”選項即可,,如下圖所示。如果還不行,,可將“自動選擇” 選項勾選上,,然后再選擇“簡體中文”,多試兩次一定能夠解決問題,。

2.7 邏輯分析儀能采樣多長時間

這個問題要分兩種情況來分析,,一種是采用定時采樣(timing),第二種是采用動態(tài)采樣(timing-state),。

一,、定時采樣(timing)

定時采樣能采集的時間長短與采樣頻率和存儲深度有關,每一個存儲單元存儲對應的時間為采集時鐘的周期,。設采樣頻率為 Fc,,每通道存儲容量為 M,則邏輯分析儀能夠持續(xù)的

采樣時間為:T = M × 1/Fc

舉例說明,,使用 LA2532 邏輯分析儀,,采樣頻率為 100MHz,則采樣時間為:T = 1Mbits × 1/100MHz = 1048576 × 10ns ≈ 10.5ms

即 1Mbits 存儲深度 100MHz 采樣頻率能采集 10ms 長度的信號,。因此邏輯分析儀的型號一但確定,,那么采集時間只與采集頻率有關。

二,、動態(tài)采樣(timing-state)

動態(tài)采樣(timing-state)是 LAB7000,、 LAB6000、 LA2000A 系列邏輯分析儀*的采樣模式,。 當邏輯分析儀的硬件確定后,,采樣時間只與被采集信號的變化率有關。被采樣信號頻率越低,,能采樣的時間就越長,。

如果您想在不升級硬件的基礎上增大采樣時間,您可以通過適當降低定時采樣率或者將采樣設置里的 timing-state 選項勾選上,,一般情況下都是可以大大增加采樣時間的,,但這是跟被采樣信號的變化率息息相關的,被采樣信號變化率越低,,可以增加的采樣時間就越長,。

但如果采取這些措施后仍然無法滿足時間需求,您就只能對硬件進行升級了。 即購買更高型號的邏輯分析儀,,從而增大每通道的存儲深度,,從根本上解決采樣時間的問題。


2.8 關于狀態(tài)優(yōu)先和位置優(yōu)先的理解

位置優(yōu)先: 位置優(yōu)先模式保證了觸發(fā)點一定會落在用戶的觸發(fā)位置上,。如圖所示,。

從圖中可以看出,用戶設置的觸發(fā)位置為 xx%,,當啟動邏輯分析儀采集時,,數(shù)據(jù)會馬上被采集并存入存儲器中,在數(shù)據(jù)末存滿到的觸發(fā)位置前,,即使有出現(xiàn)符合觸發(fā)條件的觸發(fā)信號,,它也不會觸發(fā)的,只有當數(shù)據(jù)存滿至用戶設置的觸發(fā)位置后,,出現(xiàn)符合觸發(fā)條件

的信號才會觸發(fā),。

狀態(tài)優(yōu)先: 狀態(tài)優(yōu)先不能保證觸發(fā)點一定會落在用戶的觸發(fā)位置上。它符合觸發(fā)條件的觸發(fā)信號的出現(xiàn)有關,,如圖所示,。

從圖中可以看出,然后用戶設置的觸發(fā)位置為 xx%,,但是實際的觸發(fā)位置確是在前面,也即是只要有符合觸發(fā)條件的信號,,它就會立即觸發(fā),,而不管是否到了用戶設置的觸發(fā)位置。

當然狀態(tài)優(yōu)先也有可能會存在觸發(fā)點剛好在觸發(fā)位置上的情況,,當數(shù)據(jù)存滿到用戶觸發(fā)位置前沒出現(xiàn)符合觸發(fā)條件的信號,,那么它的觸發(fā)點將會落在觸發(fā)位置上,如下圖所示,。

狀態(tài)優(yōu)先的存在是為了避免錯過出現(xiàn)機率較少的觸發(fā)條件,,假若只使用位置優(yōu)先,觸發(fā)條件只出現(xiàn)一次,,且出現(xiàn)在數(shù)據(jù)存滿觸發(fā)位置之前,,那么該觸發(fā)將捕抓不到,造成無觸發(fā)的錯誤分析,。


上面分析所講的存儲空間,,其地址和觸發(fā)位置都是相對的,并不是存儲器的物理地址,,這點要注意,。另外為了便于理解,你可以認為當數(shù)據(jù)存到觸發(fā)位置時,之后每存一個數(shù)據(jù),,先存的那個數(shù)據(jù)就丟掉,,這樣觸發(fā)位置就一直保持在用戶設置的觸發(fā)位置點上,只需

等待符合觸發(fā)條件的信號到達就可以繼續(xù)往前存儲了,,直到存滿存儲器,。

2.9 關于邏輯分析儀觸發(fā)次數(shù)的理解

邏輯分析儀采集數(shù)據(jù)直到存儲器滿才能觸發(fā)一次,即觸發(fā)一次后,,如果還有觸發(fā)信號到來時,,它并不會提示觸發(fā),但會繼續(xù)記錄數(shù)據(jù),,直至此次采集數(shù)據(jù)完成,。因此并不是一有觸發(fā)信號觸發(fā)次數(shù)就會增加。

2.10 UART 不能進行插件觸發(fā)

UART 的分析,,實質(zhì)上是由邏輯分析儀對信號進行抽樣分析,,分析檢測原理和 UART接收器一樣,需要 16 倍 UART 波特率以上的采樣頻率才能正確解析,。因此要求邏輯分析儀的采樣頻率至少要是 UART 波特率的 16 倍以上才能正確的進行插件分析和插件觸發(fā),。如采

115200bps 的信號,則至少要用 2MHz 的采樣頻率,。

2.11 以 CSV 格式導出的文件中 Time 間隔不一樣

在邏輯分析儀采集完數(shù)據(jù)后,, 這些數(shù)據(jù)往往需要被導出并進行二次利用。因此我們的軟件具有數(shù)據(jù)導出功能,,可以以 CSV 格式或者二進制文件格式進行導出,。

以CSV文件格式導出后的結(jié)果如下圖所示,其中Time的時間是狀態(tài)變化的時刻的時間,,只要信號變化不大,,則時間也不會改變,因此時間欄的時間不是等長的,。

然而,, 保存成 Bin 格式文件時,它是按 Timing 格式保存,,也即是不管壓不壓縮,,都按32位(因為有32個通道)采樣點來保存,即兩數(shù)據(jù)間的時間是等長的,;如采樣頻率為100MHz,,則兩個數(shù)據(jù)之間的間隔為 10nS。

2.12 CAN 總線測量方案

由于我們的邏輯分析只能測量單端信號,,而 CAN 總線是差分信號,,所以只能單獨測CAN 總線的 CANH 或者 CANL,,不能同時測量兩根信號(若要同時測也有辦法,見下述第三種測量方式),。根據(jù) CAN 的電平屬性(CANH 平時為 2.5V,,高時為 4~5 伏, CANL 平時

為 2.5V,,低時為 0V),,所以 CAN 總線有三種測量方式。

一種測量方式,,邏輯分析儀的地線接系統(tǒng)地,,其中一通道接 CANH,然后設置邏輯分析的比較門限電平為 3V 左右就可以,。

第二種測量方式,,系統(tǒng)地沒引出來,邏輯分析儀的地線接 CANL,,測量通道接 CANH,,這種方式要特別注意,由于 PC 地(即邏輯分析儀地)與被測系統(tǒng)地是共地的,,所以需要做隔

離,,這個要特別注意,操作方法如下,,需要用筆記本電腦測,,而且電腦不能接外置電源,以保證隔離效果,。

第三種測量方式,,同時測 CANL 和 CANH,邏輯分析儀的 PODA,,和 PODB 的比較電壓是可以單獨調(diào)的,,這時我們可以用 PODA 的測量通道接 CANH,,并且設置 PODA 的比較電平設為 3V 左右,。用 PODB 的測量通道接 CANL,并且設置 PODB 的比較電平為 1.5V 左

右,。這樣就可以同時觀測兩個信號,。

2.13 邏輯分析儀保存的文件不能打開

以前用邏輯分析儀保存的文件,現(xiàn)在打不開,。

問題解答: 以前的軟件(3.x 版本)和現(xiàn)在的軟件(4.x 版本)的架構(gòu)是不同的,,保存的文件格式是不兼容的,所以會出現(xiàn)上述問題,。只能用回舊的軟件來打開文件,。

2.14 IIC 插件分析錯誤碼

IIC 插件分析每次分析結(jié)果都不一樣,而數(shù)據(jù)實際上是一樣的,如下圖所示,,兩個圖的IIC 數(shù)據(jù)目測都能看得出來 IIC 地址都是 0x2A 是一樣的,,而分析結(jié)果有時確是錯誤的。

問題解答: IIC插件分析是根據(jù)SCL信號跳變來判斷的,,如果分析的數(shù)據(jù)中出現(xiàn)有毛刺,,極有可能會造成協(xié)議分析錯誤。這里可將數(shù)據(jù)放大,,觀察 SCL 信號線的邊沿附近是否有毛

刺,。將上面協(xié)議分析錯誤部分放大,如下圖所示,,確實可以觀察到有毛刺存在,,從而導致協(xié)議分析錯誤。

由于 IIC 總線的時鐘頻率比較低,,因此可以通過降低采樣頻率來解決協(xié)議分析錯誤的問題,,或者打開軟件濾波將毛刺過濾掉,使插件解碼正確,。

2.15 RS485 總線測量方案

使用單端采樣方式進行分析,;

分析過程: RS-485 的協(xié)議和 RS-232 是一樣的,只不過電平特性是差分的,,因為我們的邏輯分析只能測量單端信號,,因此只能單獨測 RS-485 總線的 A 端或 B 端。因為 RS485 協(xié)議規(guī)定當在接收端 A-B 之間有大于+200mV 的電平時,,輸出為正邏輯電平,;小于-200mV 時,

輸出為負邏輯電平,。單端信號線的協(xié)議和 UART 協(xié)議是一樣的,,因此可以對 A 端數(shù)據(jù)進行UART 分析,邏輯分析儀的地線接設備系統(tǒng)地,。如果不知哪個是 A 端,,可以先用邏輯分析進行預采樣判斷, A,、 B 端都接到邏輯分析儀,,然后進行采樣,如下圖所示,,空閑時為高電

毛刺平的線的為 A 端,。

通訊參數(shù)的設置和 UART 協(xié)議一樣。分析的結(jié)果如下圖所示:

注意事項: 由于差分信號根據(jù)系統(tǒng)的不同及傳輸距離的的長度不同,,電壓幅值范圍不定,。

因此分析之前要調(diào)整好邏輯分析的比較電壓,,以確保能夠正確采樣到數(shù)據(jù)。如果有必要的話可以先用示波器測量 A 端的信號幅值范圍,,然后再確定一個中間比較值,,如果沒有示波器的話,可以用默認的 1.5V 比較電平進行采樣,,然后按照已采集的數(shù)據(jù)進行協(xié)議分析,,如果

不正確的話則要重新調(diào)整比較電壓,直到正確分析為止,。

如果能保證設備的地和 PC 的地是隔離的,,也可以用邏輯分析儀的測試通道接 A 端,邏輯分析儀的地線接 B 端進行測量分析(注意:設備的地和 PC 的地是一定要是隔離的才能這么接,,否則可能會損壞設備),。

2.16 SPI、 IIC,、 SSI 具有時鐘信號數(shù)據(jù)分析錯誤問題描述: SPI,、 IIC、 SSI 等具有 CLK 時鐘信號的協(xié)議,,在分析數(shù)據(jù)時,。在不夠位數(shù)的情況下分析出數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)分析混亂,,出錯,。

問題分析: 出現(xiàn)此種情況一般是由于 CLK 信號出現(xiàn)毛刺造成的。 例如,,在此圖中 0xC 是 8bit 位的是 5 個 CLK 信號就顯示出來,, 其錯位原因主要是因為在上圖畫紅線的地方出現(xiàn)了毛刺。放大前兩個時鐘部分分別是:

解決辦法:

1,、在采集數(shù)據(jù)時開啟數(shù)據(jù)濾波(部分邏輯分析儀支持)

2,、降低采樣頻率(此方法可以降低,但是還是有一定的幾率)

3,、微調(diào)門限電壓



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