功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

鐵電參數(shù)測(cè)試功能

Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率;Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試,；

PUND 脈沖測(cè)試,；Fatigue 疲勞測(cè)試；Retention保持力,；

Imprint印跡,；Leakage current漏電流測(cè)試；Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能,。

壓電參數(shù)測(cè)試功能

可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測(cè)試,，也可通過(guò)高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動(dòng)態(tài)法測(cè)量壓電系數(shù)測(cè)量。

熱釋電測(cè)試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電測(cè)試,。采用電流法進(jìn)行測(cè)量材料的熱釋電電流,、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線,。

薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃,；

塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃,、室溫到800℃

介電溫譜測(cè)試功能

用于分析寬頻,、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X,、導(dǎo)納Y,、電導(dǎo)G,、電納B、電感L,、介電損耗D,、因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度,、頻率,、時(shí)間、偏壓變化的曲線,。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測(cè)試,。

熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC

 用于研究材功材料的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫,、相轉(zhuǎn)變,、玻璃化溫度等等，通過(guò)TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間,、活化能等相關(guān)的介電特性,。

絕緣電阻測(cè)試功能

電壓輸出與電流測(cè)量，保障測(cè)試的,，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測(cè),。例如：陶瓷材料、硅橡膠測(cè)試,、PCB,、云母、四氟材料電阻測(cè)試,、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的測(cè)試,。

高溫四探針測(cè)試功能

符合功能材料導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測(cè)試多樣化的需求,。雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量,。

塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體，陶瓷材料,，金屬材料等多種材料的多種熱電分析,；可根據(jù)用戶(hù)需求配置薄膜測(cè)量選件，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃,，高阻選件高至10MΩ,。

電卡效應(yīng)測(cè)試功能

還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡。

溫度范圍：-50℃到200℃,、熱流時(shí)間范圍：1s-1000s,，大電壓可達(dá)10kV，

波形：用戶(hù)自定,、脈沖,、三角波,、正弦波、任意波形,、預(yù)定義波形,。

功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)