中儀科信粒度分布測試儀故障維修小竅門,，優(yōu)點(diǎn)是簡單直觀

下面內(nèi)容應(yīng)涵蓋激光粒度儀數(shù)據(jù)漂移的大部分問題(不包括儀器的功能故障問題)，希望對所有激光粒度儀用戶有所幫助。

下面我們將介紹一些會導(dǎo)致激光粒度儀的常見問題：
1,、鏡頭和測試窗口被污染
2、激光光路偏移
3,、進(jìn)樣系統(tǒng)的循環(huán),、分散效能波動
4、光電探測器及其放大電路參數(shù)偏移
5,、測量參數(shù)及測量條件變動

這種假設(shè)在大多數(shù)情況下是不能接受的，例如:樣品在流動生產(chǎn)過程中,，單獨(dú)監(jiān)測顆粒大小是不準(zhǔn)確的,，有些粒子可能是球形,，一些可能是矩形,，球形顆粒比長方形顆粒流動性更好,，互信息函數(shù)法能準(zhǔn)確地測出電機(jī)轉(zhuǎn)速,，同時(shí),，由于互信息函數(shù)自身的優(yōu)點(diǎn)-一能實(shí)際地反映出數(shù)據(jù)之間的相互關(guān)聯(lián)其中以一級品,，二級品居多

粒度儀常見故障預(yù)防措施：
透鏡光學(xué)儀器的污染是一種常見的故障,。粉檢測設(shè)備,激光粒度分析儀經(jīng)常面臨著塵土飛揚(yáng)的環(huán)境中,和test窗口透鏡是一個(gè)光學(xué)器件,可以直接聯(lián)系粉末樣品,。聚焦透鏡或準(zhǔn)直透鏡等光學(xué)透鏡受到環(huán)境中的浮塵或霉變的污染,，會在純測量光束中產(chǎn)生雜散光。這些雜散光將混合到樣品的散射光干擾測試;測量窗口鏡片上的污染物會直接產(chǎn)生強(qiáng)烈的散射光,。

3.2實(shí)驗(yàn)光路的設(shè)計(jì)及光學(xué)器件的選擇3.2.1實(shí)驗(yàn)光路圖3-1Mie散射實(shí)驗(yàn)光路圖如圖3-1所示,，進(jìn)行Mie散射實(shí)驗(yàn)，zui主要的問題就是如何將顆粒的散射光強(qiáng)進(jìn)行更加的探測 中粉指60~160目的粉末,，細(xì)粉160目到300目，300目以上屬于超細(xì)粉,，但根據(jù)不同原料的易粉碎程度,，超細(xì)分類有所不同,，對于一些化合物如碳酸鈣來講300目只能算是粗粉，超細(xì)又粒徑均勻的塑料粉末克服了其他粉末顆粒缺點(diǎn)

激光水平儀故障排除解決方案—激光水平儀可以看作是復(fù)雜的工具,，特別是如果您不熟悉使用該設(shè)備或其他型號的經(jīng)驗(yàn),。在該單位停止工作中的故障時(shí)，它確實(shí)會引起不必要的焦慮和不必要的延遲,。在將其發(fā)送給進(jìn)行充分修理之前，您可以執(zhí)行一些陷阱來解釋問題,。

半導(dǎo)體晶硅片的切割刃料環(huán)節(jié)，粒度大小對碳化硅的影響碳化硅微粉是zui主要用于多線切割機(jī)上的磨料之一,，微粉的粒型及粒度是硅片表片的光潔程度和切割能力的關(guān)鍵,，碳化硅微粉的粒型及粒度，砂漿的黏度,，砂漿的流量如水泥顆粒磨細(xì)些

中儀科信粒度分布測試儀故障維修小竅門

的計(jì)算可采用Lentz的連分式算法：（2-2-15）而Lentz證明有如下關(guān)系：（2-2-16）其中,，上式用表示則可寫成如下遞推關(guān)系：（2-2-17）注意到時(shí),，因此可由上式遞推出符合精度要求的 激光粒度分析儀的功能越來越強(qiáng)大,，用戶的可選擇性也越來越多,，如何選擇一款性價(jià)比較高的儀器成為用戶關(guān)心的問題,，本文討論影響激光粒度分析儀性價(jià)比的幾點(diǎn)關(guān)鍵因素,，儀器測試范圍及分辨率同價(jià)位下，客戶往往都會選擇儀器測試范圍更寬的廠家 采用紊流分散技術(shù),，利用激波的剪切效果,，使顆粒樣品達(dá)到充分的分散，理由分散系統(tǒng)關(guān)鍵部位采用耐磨陶瓷,，不僅提高了使用壽命,，而且還保證測試結(jié)果更加準(zhǔn)確和穩(wěn)定，理由控制面板的無級變速按鈕,，不受檔數(shù)的限制,，能夠自由調(diào)節(jié)喂料速度