kSA SpectR 光譜反射率測試儀
- 公司名稱 巨力光電(北京)科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/7/4 16:25:50
- 訪問次數(shù) 3724
聯(lián)系方式:李經(jīng)理18911365393 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!
AAA 太陽光模擬器,IV測試,雙燈太陽光模擬器,太陽能電池載流子遷移率測試系統(tǒng),太陽能電池瞬態(tài)光電壓 光電流測試,,鈣鈦礦太陽能電池&疊層太陽能電池仿真軟件,多通道太陽能電池穩(wěn)定性測試系統(tǒng),,OLED光譜測量系統(tǒng)/角譜儀分析儀,,OLED仿真軟件,高分子壓電系數(shù)測試儀,,薄膜應(yīng)力測試系統(tǒng),,薄膜應(yīng)力測試儀,薄膜熱應(yīng)力測試儀,,桌面原子層沉積系統(tǒng),,鈣鈦礦LED壽命測試儀,太陽能電池量子效率QE測量系統(tǒng),,石墨烯/碳納米管制備技術(shù),,桌面型納米壓印機(jī),太陽能電池光譜響應(yīng)測試儀,,SPD噴霧熱解成膜系統(tǒng),,電滯回線及高壓介電擊穿強(qiáng)度測試系統(tǒng),,電容充放電測試儀,薄膜生長速率測試儀
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池 |
---|
kSA SpectR 光譜反射率測試設(shè)備是一種用于測量光譜絕對反射率,,L*a*b*成色值和生長速率的非接觸式測量設(shè)備,。該工具具有多種在線監(jiān)控和過程控制的應(yīng)用功能,包括垂直腔表面發(fā)射激光器(VCSEL),,分布式布拉格反射器(DBR)和其他一些復(fù)雜的設(shè)備結(jié)構(gòu),。該設(shè)備主要應(yīng)用于監(jiān)控測量sputtering,MBE和MOCVD等薄膜生產(chǎn)研究,。
kSA SpectR 光譜反射率測試設(shè)備的光學(xué)鏡組被配置為鏡面反射的幾何形狀,。在這種測量原理中,薄膜每生長出一個(gè)新layer,,程序就會(huì)自動(dòng)擬合,,將已有的所有基底和薄膜layer視為一個(gè)新的虛擬基底。kSA SpectR可以同時(shí)以多個(gè)波長進(jìn)行測量,,每個(gè)波長都具有潛在的特性,。此設(shè)備可在選定的波長范圍內(nèi)測量自定義光譜特征,如反射率的最小值,、最大值,、拐點(diǎn)或基線散射水平。
測量實(shí)例
850 nm DBR的光譜反射率
在GaAs襯底上生長250nm的AlAs和500nm的GaAs時(shí),,532和940nm下的反射率及其擬合曲線
AlAs生長期間的生長速率,,光學(xué)常數(shù)和反射率實(shí)時(shí)擬合曲線
AlAs和GaAs生長的未經(jīng)校正的高溫計(jì)測量結(jié)果和經(jīng)過校正的ECP溫度
GaAs薄膜生長過程中單個(gè)反射率振蕩周期圖