光譜中性衰減低透過率模擬器 計量儀器
- 公司名稱 普天同創(chuàng)(深圳)科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2021/4/23 13:42:57
- 訪問次數(shù) 180
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
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XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計量儀器.
在儀器測定波長名義值(589nm,、880nm,、882nm)上下10nm范圍內(nèi),對于衰減比為10%,、1%,,其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值,。
:;" title="">技術(shù)參數(shù)
在儀器測定波長名義值(589nm,、880nm、882nm)上下10 nm范圍內(nèi),,對于衰減比為10%,、1%,,其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值,。
XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計量儀器
在儀器測定波長名義值(589nm,、880nm、882nm)上下10nm范圍內(nèi),,對于衰減比為10%,、1%,其衰減相對變化不超過±20%,。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值,。
:;" title="">技術(shù)參數(shù)
在儀器測定波長名義值(589nm、880nm,、882nm)上下10 nm范圍內(nèi),,對于衰減比為10%、1%,,其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值,。