設計用于測量背向反射（回損）對轉(zhuǎn)發(fā)器原型影響的可變背向反射器。

主要優(yōu)點

55 dB反射范圍
輕松的實時操作
OSICS平臺內(nèi)的單插槽模塊

應用

模擬非配對連接器的累積反射
回損測量校準
元器件測試
激光器開發(fā)和生產(chǎn)
OTDR測試

描述

EXFO的OSICS BKR可變背反射器可模擬光纖系統(tǒng)內(nèi)所有光接口上的反射率,。它是測試背向反射對應答器原型造成的影響,，以及在PON/WDM系統(tǒng)中對發(fā)射器和接收器進行壓力測試的完美研發(fā)工具。

大反射范圍

OSICS BKR集成有可變反射器,，它可設置為3至55 dB,，并在很大的波長范圍內(nèi)工作。其大反射范圍使您能夠采用單臺儀表涵蓋任何設置,。

輕松的實時操作

可在用戶友好的前面板顯示屏上實時調(diào)整或讀取反射率,。

新增功能

EXFO的OSICS模塊配備多個出色的功能，包括遠程命令,、高性能可調(diào)諧激光源,、光開關以及能夠容納多達8個模塊等。