場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡FE-SEM成像影響因素非常多,，檢測(cè)手段應(yīng)與時(shí)俱進(jìn),，該怎樣選擇一款成像優(yōu)異的FE-SEM（場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡），幾乎是每一個(gè)意向購(gòu)買者需要糾結(jié)和權(quán)衡的問(wèn)題,。

      隨著工業(yè)制造的高度精細(xì)化,，其帶動(dòng)了顯微分析技術(shù)在納米材料時(shí)代的極速發(fā)展，SEM行業(yè)乘此東風(fēng),，對(duì)材料顯微結(jié)構(gòu)的分辨能力進(jìn)一步提升,，以ZEISS 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡FE-SEM觀察SBA-15（介孔二氧化硅）為例，利用低電壓的高分辨觀察手段,，可直接分辨出SBA-15的孔道（圖1）和孔洞（圖2）結(jié)構(gòu),，像這種具有介孔尺寸（2-50nm）且非導(dǎo)電的材料，科研人員通常需要昂貴的TEM進(jìn)行觀察,，但場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡FE-SEM憑借著高分辨性能的進(jìn)化,，正逐漸分流部分「只有TEM才能觀察和分析」的材料過(guò)來(lái)。

　　看到這里,，可能手機(jī)前的您會(huì)產(chǎn)生一絲疑惑,，既然FE-SEM整個(gè)行業(yè)的成像能力已經(jīng)非常牛了，那么是不是每個(gè)廠家的FE-SEM,，使用起來(lái)都一樣,，至少成像效果沒(méi)有什么區(qū)別？
 

誠(chéng)然,，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡FE-SEM行業(yè)各廠家目前正面臨著一個(gè)共同問(wèn)題——同質(zhì)化,，下面我們看一個(gè)例子：圖3展示了使用ZEISS FE-SEM和其他品牌FE-SEM觀察的石墨烯負(fù)載鈷的硫化物，從成像效果來(lái)看,，兩者的區(qū)別很小,，信噪比都比較理想，圖像質(zhì)量都很高,。
 

　　這兩張圖片的對(duì)比,，一定程度上映襯了FE-SEM行業(yè)同質(zhì)化的現(xiàn)況，即成像效果區(qū)別不大，但是,，我們需要弄清楚的是,，這種同質(zhì)化是有相應(yīng)前提的，也就是說(shuō),，在樣品對(duì)FE-SEM成像能力要求不高的時(shí)候,，例如材料產(chǎn)生的荷電不嚴(yán)重或者沒(méi)有荷電、放大倍率不高,，各類FE-SEM的成像效果必然會(huì)比較接近,。