蔡司三維X射線顯微鏡 納米級Xradia 510/520 Versa產(chǎn)品于2011年上市,，歷經(jīng)近10年的時間考驗,，該系列產(chǎn)品已廣泛應用在科研和工業(yè)檢測領域，它以其*技術特點,、穩(wěn)定的產(chǎn)品性能成為了廣大用戶所青睞的經(jīng)典款產(chǎn)品,。今天我們推出新款Xraida 515 Versa X射線顯微鏡，保持*的大樣品高分辨率技術優(yōu)勢的同時,，還可實現(xiàn)高達500 nm空間分辨率,。該產(chǎn)品通過使用更高分辨率的光學元件，實現(xiàn)分辨率的改善和突破,。與此同時,，該產(chǎn)品還加入了更多的智能的元素，并且具有更廣闊的拓展能力,。

　　在分辨率方面的改進與大樣品高分辨率(RaaD)成像技術的結合,，保證了Xradia 515 Versa可對各種類型和尺寸的樣品實現(xiàn)高分辨率成像。Xraida 515 Versa產(chǎn)品可引入智能防撞系統(tǒng)Smartshield,，讓操作更加智能,、安全。計算機工作站配備上的升級也將大大提升了數(shù)據(jù)處理能力,。此外,，Xraida 515 Versa系統(tǒng)還可進行擴展和升級，包括原位接口,、4D原位試驗平臺,、迭代重構、自動進樣裝置,、平板探測器等多個拓展模塊,。結合蔡司Xradia平臺的靈活性和穩(wěn)定性，該產(chǎn)品出色的多功能,、多應用領域特點將為您的研究工作快速的提供分析成果,。