S-MRS系列 漫反射率測試系統(tǒng)
- 公司名稱 上海波銘科學儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 S-MRS系列
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/1/22 19:07:29
- 訪問次數(shù) 1699
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S-MRS系列漫反射率測試系統(tǒng)應用:
• 光譜測量范圍:350-2500nm ;光譜分辨率:2nm以下,;光譜掃描步距:0.2-100nm可連續(xù)設置
• 波長準確度:優(yōu)于±0.2nm(紫外-可見區(qū)),優(yōu)于±0.5nm,;(近紅外區(qū))
• 光度測量準確度:1%以內(紫外-可見區(qū)),,2%以內;(近紅外區(qū))
• 光度測量重復性:1% (450nm-1800nm) ,;測試試樣尺寸(典型):直徑大于15mm,,若同時測試透過率,則樣品厚度必須小于5mm
S-MRS系列漫反射率測試系統(tǒng)特點
• 光譜測量范圍:350-2500nm ;光譜分辨率:2nm以下,;光譜掃描步距:0.2-100nm可連續(xù)設置
• 波長準確度:優(yōu)于±0.2nm(紫外-可見區(qū)),,優(yōu)于±0.5nm;(近紅外區(qū))
• 光度測量準確度:1%以內(紫外-可見區(qū)),,2%以內,;(近紅外區(qū))
• 光度測量重復性:1% (450nm-1800nm) ;測試試樣尺寸(典型):直徑大于15mm,,若同時測試透過率,則樣品厚度必須小于5mm