EyeTech是新一代顆粒粒度和粒形分析儀,。我們在粒度和粒形分析方面具有豐富的經(jīng)驗，為各種應(yīng)用引入了滿足各種不同應(yīng)用需求的粒徑粒形分析方法,。

激光粒度儀粒度粒形分析儀

測量原理

粒徑分析 (PSA)

EyeTech 激光粒度儀采用有名的激光遮擋法（LOT）,。這是一種針對旋轉(zhuǎn)的激光光束遮擋時間 的粒徑分析技術(shù)。樣品中顆粒被聚焦的He-Ne 激光掃描,，該激光采用楔形棱鏡,，以200Hz的速度旋轉(zhuǎn),。在角速度已知的情況下，每一顆粒的直徑都可以用遮擋信號的持續(xù)時間來計算,。這免除了其它分析技術(shù)所需的對檢測器靈敏度進行校正的必要性。

EyeTech 激光粒度儀具有高精度,、可靠性和重復(fù)性,。我們激光方法在600個不連續(xù)的時間間隔進行粒徑測量，得到高分辨率的粒徑分布,。顆粒粒徑是直接測出來的,，而不是通過粒徑的二級特點推算出來的。不受折射率指數(shù),、粘度變化,、布朗運動、熱傳導(dǎo)和其它物理現(xiàn)象的影響,。

動態(tài)粒形分析 (DSC)

動態(tài)粒形分析采用樣品的原位圖像來分析粒形特征,。收集顆粒數(shù)字圖像并分析大量形狀參數(shù)。動態(tài)顯微鏡同步頻閃光在顆粒在動態(tài)流動過程中,，可以連續(xù)捕捉“靜止”圖片,。這樣就不必停止液體流動和限制對靜止物體的監(jiān)測。大量圖片被放大,、處理和自動分析,，確保結(jié)果具有充分的代表性。圖像和統(tǒng)計數(shù)據(jù)都可以打印或儲存,，作為樣品記錄,。

激光粒度儀粒度粒形分析儀

特別特征

模塊化設(shè)計

可互換的測量池模塊能夠分析各種狀態(tài)的顆粒，液體,、粉末,、氣溶膠、膏狀,、薄膜和乳劑,。還有特別的測量池用于高濃度樣品測量。采用基于工業(yè)P4 電腦開發(fā)的ACU,，模塊化的EyeTech可以被很方便地整合到任何實驗室,。

高速度

EyeTech的粒徑分析速度非常快,。EyeTech用了一種特別快速的掃描和分析裝置,。低濃度的顆粒能夠在30秒之內(nèi)測好。

寬范圍

激光通道可以測定0.1到2000 µm 的顆粒,。使用動態(tài)高速視頻通道,，可以在幾分鐘內(nèi)測量成千上萬顆顆粒的圖像,，粒徑從2µm~3600µm。動態(tài)粒形分析能夠獲得高質(zhì)量的,、高對比度的圖像,，能夠定義和測量低對比度的目標。

樣品分析測量池和樣品分散裝置

EyeTech具有大量自動化的耐用的樣品分析測量池和樣品分散裝置,，可以根據(jù)具體要求,，測量各種不同的濕樣和干的樣品。

主要技術(shù)特點：

1. 直接對每個顆粒進行測量得到顆粒分布,，不是根據(jù)其他二級特性推算出來的顆粒分布;

2. 不會因為樣品折射指數(shù),、粘度變化、布朗運動和熱對流等不確定因素引起測量誤差;

3. 分析結(jié)果不依于賴顆?；蚍稚⒔橘|(zhì)的光學(xué)特性,，可以測量高折射率顆粒、透明顆粒,、半透明顆粒以及混合材料顆粒;

4. 多種測量池,，適合進行各種樣品干態(tài)、濕態(tài)分析

5. 自動校準,，免校正和標定;

6. 高分辨率,、可重復(fù)性和寬動態(tài)范圍;

7. 提供弗雷特（Feret）直徑、面積,、周長,、形狀因子、長細比,、凹凸度,、橢圓度等等40個顆粒粒度和粒形參數(shù);

8. “眼見為實” ― 我們*的視頻通道除了能夠進行粒形分析，還可以給您測量顆粒的實時動態(tài)圖像Video顯示,。

*的顆粒信息數(shù)據(jù)庫功能,，每個顆粒的圖像和粒形信息都存儲在數(shù)據(jù)庫里，方便查閱,、比較和檢索

測量池具體配置

1. ACM-101 電磁擾動測量池

2. ACM-102機械擾動測量池

3. ACM-104A 流動式液體測量池

4. ACM-108微流量測量池

5. ACM-110顯微鏡載片測量池

6. ACM-112自由落體式測量池

7. ACM-106 氣溶膠測量池

8. ACM-111 溫控測量池