日本NIKON尼康第三代激光掃描測頭 ,，革命性第三代激光掃描測頭 精度可媲美接觸式測頭LC15Dx *可以替代接觸式測頭,，用于日益普遍的高精度三坐標測量機應用。該機器可在不影響生產周期的情況下更地測量產品尺寸,。此外,，它還能更高效地測量多種部件,、幾何體及材料，其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件,。 

優(yōu)點

精度可媲美接觸式測頭 

采用激光掃描測頭技術的 LC15Dx 達到了與接觸式測頭同級別的精度,。在按照 ISO 10360-2 MPEP 和 ISO 10360-5 MPEAL 的測試中，LC15Dx 達到了與使用三坐標測量機和接觸式測頭相當的精度,。但與接觸式測頭不同的是,，LC15Dx 使用非接觸式 3D 激光三角測量法直接測量物體表面并消除了測頭補償誤差。掃描測頭內部裝有熱穩(wěn)定器,，可解決激光掃描測頭在未達到工作溫度時容易出現的不穩(wěn)定和延遲問題,。 

操作輕松的多功能掃描

尼康*的 ESP3 技術可針對每個測量點實時智能調整激光設定。它可以更高效地測量更多種類的表面材料,、飾面,、顏色及連接體（包括小尺寸和易碎部件）及混合材料的尺寸，且無需用戶干預,、手動調節(jié)以及表面噴粉,。*的濾光軟件過濾若干非正常反射，而高級日光濾光片則可吸收環(huán)境光,。 

更高的產品質量檢測水準

全局比較功能可提供產品外觀尺寸的全 3D 視圖,。整個部件可與 CAD 模型進行對比檢查，并用色彩映射高亮顯示需要關注的區(qū)域,。還可使用彈出菜單,、截面圖和幾何尺寸與公差（GD&T）庫進行進一步的研究和分析。用戶可根據需要讓設備自動生成或簡易或詳細的測量報告,。 

適合各類應用的直觀軟件

 LC15Dx 可使用包括 FOCUS 和 CAMIO在內,，適用于部件與 CAD 對比檢測和特征檢測的常用軟件工具包。

重要功能包括：

• CAD 編程                      • 多傳感器三坐標測量機 
• 擬合                       • 離線編程 
• 部件與 CAD 對比       • 點云測量 
• 特征檢測                      • GD&T 庫 
• 葉片分析                      • 教學編程 
• 色彩報告                      • 離線模擬

應用

 測量高精度部件和小型幾何體

LC15Dx 在測量多種高精度部件和幾何體（包括精細部件,、半鋼性部件和高性能材料）時具有顯著優(yōu)勢：

處理：生產 － 研發(fā) － 逆向工程 
方法：機械加工 － 模塑 － 模壓 － 澆鑄 － 鍛造 
材料：金屬 － 塑料 － 橡膠 － 陶土 － 陶瓷 － 合成材料 
表面處理：機械加工 － 拋光 － 電鍍 － 油漆 － 混色 
結構： 剛硬 － 柔軟 － 柔韌 － 易碎 
特征： 表面 － 幾何特征 － 剖面 － 截面

 多傳感器三坐標測量機

結合激光掃描和接觸式探測

某些情況下,，采用單傳感器技術無法測量所有特征。LC15Dx 可結合使用選購的接觸式測頭構成多傳感器三坐標多功能測量機,。根據應用需求,，可在相同的檢測項目中單獨或共同使用這兩項技術。在三坐標測量機平臺上加裝切換和存儲支架選購件后,，可以自動切換傳感器,。

升級改造

提升當前三座標測量機的能力 

使用 LC15Dx 來改進您當前的三座標測量機是一種低成本高收益的解決方案。這種改進基于現有的三座標測量機控制器硬件,，附之以兼容的*測頭系統(tǒng),，構成可進行接觸及非接觸式測量的多傳感器三座標多功能測量機。

LC15Dx 改進套件可用于以下三座標測量機控制器系統(tǒng),。

• Aberlink       • Hexagon DEA                       • Renishaw 
• Deva            • Hexagon Brown & Sharpe    • Wenze 
• Coord3        • Hexagon Sheffield                  • Werth 
• Dukin           • Mitutoyo                               • Zeiss 

 規(guī) 格  

 日本NIKON尼康第三代激光掃描測頭 ,，革命性第三代激光掃描測頭 精度可媲美接觸式測頭LC15Dx *可以替代接觸式測頭,，用于日益普遍的高精度三坐標測量機應用。該機器可在不影響生產周期的情況下更地測量產品尺寸,。此外,，它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料,，其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件,。