我公司生產(chǎn)的有以下幾款：

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀-高頻

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀-工頻

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀-高低頻

專門測液體介電常數(shù)的設備

適合不同材料和頻率段的測試，歡迎咨詢~

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀哪個好 被測樣品要求為圓形,，直徑38~42 mm配GCSTD-A介電常數(shù)測試儀,。這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1~5mm之間,，如太薄或太厚則測試精度就會下降,，樣品要盡可能平直。
     注意：在操作中要十分注意樣品的清潔,，要戴手套或用鑷子取放樣品,。
    下面推薦一種能提高測試**性的方法：準備二片厚0.05mm的圓形錫膜。直徑和平板電容器極片一致,，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林,，它起粘附作用，又能排除接觸面之間殘余空氣,。把錫膜再粘在平板電容器兩個極片上,，粘好后，極片呈鏡面狀為佳,。然后，放上被測樣品,。
   介電常數(shù)測試儀測試前準備：
    先要詳細了解本裝置配用Q表的使用方法,，操作時，要避免人體感應的影響,，即調(diào)節(jié)本裝置時,，手臂盡可能離開本裝置,。

    試樣電容近似于△C，即是可變電容器電容的變化量,。

測量誤差主要來自二次指示器的標定刻度,，以及在連線中尤其是在可變電容器和試樣的連線中所引入的阻抗。

    檢查Q表是否正常工作

            a) 將250-100μH電感器（一般先用250μH）,，接在Q表“Lx”接線柱上,。

            b) 頻率調(diào)至1MHz。

            c) 微調(diào)電容器置于“0pF”處（ZJD-B無微調(diào)電容）,，調(diào)節(jié)主調(diào)電容器,，使其諧振，Q值應指示在160左右,，調(diào)諧電容值刻度在100pF附近,，表示Q表處于正常工作狀態(tài)。

  國標GB/T 1409-2006,，推薦Q表法測試絕緣材料的介質(zhì)損耗因數(shù)和介電常數(shù)程序：

      先完成4.3規(guī)定的測試前準備基礎上進行正常測試,。

      把本測試裝置ZJD-B插到Q表測試回路的“Cx”二個端子上（如下圖）。把圓筒電容器置于12.5mm處,，平板電容器置于3 mm處,。

      把被測樣品放置于二極片之間，到二極片夾住樣品止,。

      調(diào)節(jié)Q表的調(diào)諧電容器,，使其諧振，此時讀取Q值記為Qt,，調(diào)諧電容的刻度記為Ct,。

      松開平板電容器極片，取出被測樣品,，但平板電容器仍在置于有樣品時的刻度處,，保持極片距離和有樣品時一致。

      再次調(diào)節(jié)Q表的調(diào)諧電容器,，再次諧振,，此時讀取的Q值為Qo（Qo總是比Qt高，對上等絕緣材料,，二者較接近,，要仔細調(diào)諧,并要利用Q表的Q記憶功能，得到正確的Q值）,。調(diào)諧電容的刻度記為C0（C0總是比Ct大）對低介電常數(shù)材料,，電容變化值（ΔC）較小，可考慮使用Q表的ΔC調(diào)節(jié)旋鈕或用ZH914,ZH915測試裝置上圓筒電容器的讀數(shù)變化換算成ΔC,，以提高測試精度,。

 試樣的損耗因數(shù)計算公式為：

C0：電路中的總電容,，包括電壓表以及電感線圈本身的電容，一般以無試樣時,，Q表諧振電容值為C0（即Q表調(diào)諧電容指示值）,。

△C：是移除試樣后再諧振時電容值（C0）與有樣品時調(diào)諧電容值（C0）之差，即：△C= C0- Ct（有試樣時測得電容值）

Cp：極片空氣介質(zhì)結構電容,，Cp= r 2 /3.6d ,式中r為測試夾具平板電極的半經(jīng),，對ZJD-B而言r =1.9。所以當用厚度(d)為2mm樣品測試時,，用ZJD-B測Cp=5pF,。同樣可以查看附圖1板間隙曲線得到Cp值。

Qt：有試樣時測得Q值,。  Qo：無試樣時測得Q值,。

  另一種介質(zhì)損耗因數(shù)和介電常數(shù)測試儀方法（變電納法）：

     調(diào)節(jié)平板電容器測微桿，使二極片相接為止,，讀取刻度值記為D0,。這時測微桿應處在0mm處附近。

      再松開二極片,，把被測樣品插入二極片之間,，調(diào)節(jié)平板電容器測微桿，到二極片夾住樣品止,。這時能讀取新的刻度值,，記為D1，這時樣品厚度D2=D1-D0,。

      把圓筒電容器置于10mm處,。

      設置Q表的測試頻率，例如1MHz,，調(diào)節(jié)Q表調(diào)諧電容,，使之諧振，讀得Q值,。

      先順時針方向,，后逆時針方向，調(diào)節(jié)圓筒電容器,，讀取當Q表指示Q值為原值的一半時測微桿上二個刻度值,，取這二個值之差，記為M1,。舉例：諧振時Q值為200,，先順時針方向轉，Q值下降呈100時，圓筒刻度計為8mm,，再逆時針轉至再次出現(xiàn)Q值降至100時，刻度計為11mm,，測二值之差M1=3,。

     再調(diào)節(jié)圓筒電容器，使Q表再次諧振,。即圓筒電容器重新回到10mm處,。

     取出平板電容器中的樣品，這時Q表又失諧,，調(diào)節(jié)平板電容器,，使再諧振，讀取測微桿上的讀值D3,，其變化值為D4=D3-D0,。

   款操作一樣，得到新的二個值之差,，記為M2,，M2總比M1小。
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試驗步驟

試樣的制備

 試樣應從固體材料上截取,，為了滿足要求,，應按相關的標準方法的要求來制備。

 應地測量厚度,，使偏差在士(0. 2%士,。.005 mm)以內(nèi)，測量點應均勻地分布在試樣表面,。必要時,，應測其有效面積。

條件處理

 條件處理應按相關規(guī)范規(guī)定進行,。

測量

 電氣測量按本標準或所使用的儀器(電橋)制造商推薦的標準及相應的方法進行,。

 在1MHz或更高頻率下，必須減小接線的電感對測量結果的影響,。此時,，可采用同軸接線系統(tǒng)，當用變電抗法測量時,，應提供一個固定微調(diào)電容器,。