林地冠層分析系統(tǒng)

一 用途

hemiview林地冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結構有關的,，例如葉面積指數(shù),、光照間隙及間隙分布狀況,。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關信息,，HemiView 能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標,、冠層指標,、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布,。

二 原理

使用180度魚眼鏡頭和數(shù)碼單反相機從植物冠層下方或森林地面向上取像, 再將數(shù)碼相機的高清晰度影像載入HemiView軟件，進行分析處理,。

三 組成

• DCM10數(shù)碼單反相機：EOS 單反相機獲取冠層圖像,；
• SLM10自平衡相機安放支架：安裝數(shù)碼相機，自動保持水平
• SCL10魚眼鏡頭：配EOS 單反相機
• MPD1可伸縮單臂支架：可以獲取不同層面冠層圖像
• HemiView軟件：HMV1處理影像數(shù)據(jù)文件

四 系統(tǒng)特點

1 清晰的成像能力

本系統(tǒng)采用佳能EOS單反相機來拍攝照片,，該相機擁有2600萬像素成像能力,，大大提高了相片分辨率，從而使分析更加準確,。

2 快速,、簡便的操作

搭配自平衡支架，使鏡頭自動水平,，使得測量更加簡單,，操作更加方便；平衡架上面配有南,、北標志,，可以在照片上清晰的標記處南北方向，使圖片后期處理更加方便,。

3 多方位的拍攝

  該系統(tǒng)配有180°廣角,、高分辨率的魚眼鏡頭，可以對冠層進行多方位的拍攝，完整的記錄各個天空方向,。

4 強大的冠層分析能力

通過對照片分析,，可以非破壞性的測量葉面積指數(shù)、葉面傾角,、葉面積指數(shù)的空間分布,、冠層郁閉度、光照間隙及間隙分布狀況等多種冠層參數(shù),。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關信息,， 能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。

5 多樣的太陽輻射分析

  用戶通過選擇天頂角分區(qū)和方位角分區(qū)可以定義冠層圖像的分析區(qū)域,，可以計算輻射指標,、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布；直接輻射,、漫輻射,、總輻射變化；一天內每隔小時內的冠層上下的輻射變化,；季節(jié)內特定天內的每天輻射變化。

6 可以分析的參數(shù)

五 基本技術指標

• 數(shù)碼相機有效像素：2600萬像素
• 魚眼透鏡視角：180º
• MPD1可伸縮單臂支架范圍：0.69 ~ 1.66 m
• 操作溫度：5 ~ 55℃
• 圖像格式：BMP,、JPEG,、TIFF、Photo CD
• Hemiview數(shù)據(jù)輸出：Excel格式

六 產地：英國

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