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日立分析儀器(上海)有限公司

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OE750 日本日立 光譜儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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“以規(guī)矩為方圓則成,,以尺寸量長短則得”,。——管子

蘇州市方圓計(jì)量?jī)x器有限公司(簡(jiǎn)稱“方圓量?jī)x”),成立于二零零五年,,坐落于中新合作蘇州新加坡工業(yè)園區(qū),,毗鄰美麗的陽澄湖,公司致力于推廣和銷售各類計(jì)量檢測(cè)儀器和實(shí)驗(yàn)室設(shè)備,,為航空航天,、軌道交通、汽車,、電子,、核電、光伏,、科研,、模具、裝備制造及3C等產(chǎn)業(yè)提供一站式測(cè)量解決方案,。

公司主要銷售的產(chǎn)品如下:

各類檢測(cè)儀器和實(shí)驗(yàn)設(shè)備: 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),,影像測(cè)量?jī)x,三維光學(xué)掃描儀,,光學(xué)軸類測(cè)量?jī)x,、光學(xué)投影儀、影像測(cè)量?jī)x,、工具顯微鏡,,粗糙度儀、輪廓儀,,圓度圓柱度儀,,數(shù)顯測(cè)高儀,,萬能測(cè)長儀,螺紋測(cè)量?jī)x,,激光跟蹤儀,,激光干涉儀,氣動(dòng)量?jī)x工作站,,齒輪測(cè)量中心,,齒輪嚙合儀,通用量具,、各種硬度試驗(yàn)機(jī),、精密烘箱、電子天平,、掃描電子顯微鏡,、金相顯微鏡、光譜分析儀,、X射線熒光光譜儀(XRF),、激光粒度儀,彈簧試驗(yàn)機(jī),,萬能材料試驗(yàn)機(jī),、金相設(shè)備等。

主要代理品牌有:日本東京精密ACCRTECH,、日本日立儀器,、日本大阪精密OSAKA、荷蘭軼諾INNOVATEST,、美國施泰力Starrett,、美國愛佩儀API、意大利馬波斯Marposs,、瑞士TRIMOS,、日本三豐Mitutoyo、日本親和SHINWA,、德國徠卡Leica,、德國菲希爾Fischer、英國艾德姆ADAM,、日本愛斯佩克ESPEC,、、日本理學(xué)Rigaku,、日本堀場(chǎng)Horiba,、深圳中圖等。

本公司自2005年成立以來,一直遵循:服務(wù)創(chuàng)造價(jià)值的經(jīng)營理念,。公司設(shè)有大型儀器展廳,可以為客戶提供測(cè)件,,演示,,培訓(xùn),維修,,校準(zhǔn)等一系列服務(wù),。公司在堅(jiān)持為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品的同時(shí),更加注重產(chǎn)品的售前售中售后服務(wù),,現(xiàn)已培育出一支高素質(zhì)的技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì),,為公司銷售的產(chǎn)品提供了良好的技術(shù)服務(wù)保障,讓客戶沒有后顧之憂,。

 

激光跟蹤儀,,三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),影像測(cè)量?jī)x,,投影儀,,工具顯微鏡,粗糙度儀,、輪廓儀,,圓度圓柱度儀,齒輪嚙合儀,,齒輪檢測(cè)中心,,測(cè)高儀,測(cè)長儀,,激光測(cè)徑儀,,氣動(dòng)量?jī)x,通用量具,,硬度計(jì),,光譜分析儀,萬能試驗(yàn)機(jī),,金相設(shè)備,,內(nèi)窺鏡,無損檢測(cè),,環(huán)境試驗(yàn),,表面涂裝檢測(cè)等精密儀器

應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子/電池,道路/軌道/船舶

日本日立 光譜儀

由于行業(yè)法規(guī)日益嚴(yán)格,供應(yīng)鏈變得復(fù)雜以及更多地使 用廢料作為基礎(chǔ)材料,,因此鑄造廠和金屬制造商必須將 雜質(zhì)和痕量元素控制在*低ppm范圍內(nèi),。在過去,這一 級(jí)別的OES對(duì)許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器 推出的新型OE750可改變這一現(xiàn)狀,。

日立的這款全新OES可用于分析所有主要合金元素,,并 識(shí)別金屬中含量極低的雜質(zhì)、痕量元素和關(guān)心元素,,如 鋼中的氮,。 OE750的測(cè)量速度快、可靠性高且運(yùn)營成本 低,,可進(jìn)行高性價(jià)比的日常分析和全面質(zhì)量控制,,其性 能可與更大、更貴的光譜儀媲美,。

德國制造的OE750的設(shè)計(jì)離不開日立45余年的金屬行業(yè) 經(jīng)驗(yàn)的支撐,。從測(cè)量鋼鐵中的氮到鋁中的磷 ,這款分析 儀可提供滿足當(dāng)今嚴(yán)格規(guī)范所需的全面金屬分析,。 日立分析儀器的OE750是可進(jìn)行快速,、全面的金屬質(zhì)量 分析的經(jīng)濟(jì)適用儀器,可滿足一切需求,。

日本日立 光譜儀

我們?nèi)绾翁岣?性價(jià)比

這*取決于技術(shù),。

OE750采用*先進(jìn)的半導(dǎo)體探測(cè)器和新型光學(xué)概念(四項(xiàng)*利 正在申請(qǐng)中)。這使得日立的OES光譜儀在同類產(chǎn)品中具有* 高光學(xué)分辨率,,因此您不必在高性能和低成本之間作出選擇,。

動(dòng)態(tài)CMOS檢測(cè)器的創(chuàng)新使用以及將光學(xué)系統(tǒng)直接接合至火花 臺(tái)可確保*佳照度以及119nm至766nm的波長范圍。這包括 從氫到鈾的所有元素,,用于全元素分析*,。這種性能通常只適 用于*端質(zhì)量控制儀器,但OE750可通過創(chuàng)新,、低氬和低功耗 降低成本,。

OE750在元素選擇上具有大大的靈活性,能使操作適合未來需 要,。

*大可靠性和*短停 機(jī)時(shí)間

| OE750旨在保持運(yùn)行不間斷,。其 維護(hù)時(shí)間被縮至小,;例如,,只 需每隔幾千次測(cè)量*清理一次火花 臺(tái),標(biāo)準(zhǔn)化間隔通常是幾周甚至幾 個(gè)月,。由此可實(shí)現(xiàn)每周節(jié)省2個(gè)小 時(shí),。

| 此外,新開發(fā)的數(shù)字火花光源將提 供更好的可靠性以及每個(gè)元素的* 佳能量激發(fā)脈沖,,從而提高分析的 精密度,。








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