我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）,、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) ,、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）,、光電直讀光譜儀（OES）,、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）,、液相色譜儀（LC）,、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）,、高頻紅外碳硫分析儀（CS）等,。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠,、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）,、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs,、銻Sb,、鋇Ｂa、鎘Cd,、鉻Cr,、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素,、建材（水泥,、玻璃、陶瓷,、耐火材料等）,、合金（銅合金、鋁合金,、鎂合金等）,、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦,、其它黑色及有色金屬等）,、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測設(shè)備）、塑料（無鹵測試等）,、石油化工,、高嶺土、煤炭,、食品,、空氣、水質(zhì),、土壤,、環(huán)境保護、香精香料,、紡織品,、醫(yī)藥、商品檢驗,、質(zhì)量檢驗,、醫(yī)療器械重金屬含量測試、人體微量元素和化合物檢驗等等,。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等,。

檢測膜厚機器設(shè)備

專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光,、靶材熒光,、吸收增強效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,，結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù),、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標樣來校正儀器因子,，可測試重復(fù)鍍層,、非金屬、輕金屬,、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量,。

單涂鍍層應(yīng)用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂鍍層應(yīng)用：如Au/Ni/Fe,、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe，通過EFP算法,，在計算鎳磷鍍層厚度的同時,，還可分析出鎳磷含量比例。

重復(fù)鍍層應(yīng)用：不同層有相同元素,，也可測量和分析,。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，一層Ni和第三層Ni的厚度均可測量,。

儀器的四大理由：

1.一機多用,，無損檢測

2.小測量面積0.002mm2

3.可檢測凹槽0-90mm的異形件

4.輕元素，重復(fù)鍍層,，同種元素不同層亦可檢測

配置清單：

檢測膜厚機器設(shè)備