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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>白光干涉測厚儀>FR-pRo Thetametrisis膜厚測量儀

FR-pRo Thetametrisis膜厚測量儀

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岱美儀器技術服務(上海)有限公司(Dymek Company Ltd ,,下面簡稱岱美)成立于1989年,是一間擁有多年經驗的高科技設備分銷商,,主要為數據存儲,、半導體、光通訊,、高校及研發(fā)中心提供各類測量設備,、工序設備以及相應的技術支持,并與一些重要的客戶建立了長期合作的關系。自1989年創(chuàng)立至今,,岱美的產品以及各類服務,、解決方案廣泛地運用于中國香港,中國大陸(上海,、東莞,、北京),中國臺灣,,泰國,,菲律賓,馬來西亞,,越南及新加坡等地區(qū),。


岱美在中國大陸地區(qū)主要銷售或提供技術支持的產品:

晶圓鍵合機、納米壓印設備,、紫外光刻機,、涂膠顯影機、硅片清洗機,、超薄晶圓處理設備,、光學三維輪廓儀、硅穿孔TSV量測,、非接觸式光學三坐標測量儀,、薄膜厚度檢測儀、主動及被動式防震臺系統(tǒng),、應力檢測儀,、電容式位移傳感器、定心儀等,。


岱美重要合作伙伴包括有:

Thetametrisis, EVG, FSM, Opto-Alignment, Herz, PLSINTEC, Film Sense, Reditech, Lazin, Delcom, Microsense, Shb, boffotto, RTEC, Kosaka, Nanotronics, MTInc, 4D, Daeil, Microphysics,

n&k Technology, First Nano, Schmitt, LESCO, Otsuka, STI, Kurashiki, Ryokosha, SURAGUS, Westbond...


如有需要,,請聯系我們,了解我們如何開始與您之間的合作,,實現您的企業(yè)或者組織機構長期發(fā)展的目標,。




膜厚儀,輪廓儀,,EVG鍵合機,,EVG光刻機,HERZ隔震臺,,Microsense電容式位移傳感器

產地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產業(yè),電子/電池,綜合
膜厚測量儀是一種用于測量薄膜,、涂層或其它薄層材料厚度的儀器。膜厚測量儀通常采用不同的工作原理和技術來實現準確的厚度測量,,常見的膜厚測量儀包括:
1,、X射線熒光測厚儀:利用X射線照射樣品表面,通過測量熒光光譜來確定薄膜厚度,。
2,、聲表面波測量儀:利用超聲波在薄膜表面?zhèn)鞑サ奶匦詠頊y量薄膜厚度。
3,、光學干涉儀:利用光學干涉原理測量薄膜的厚度,,常見的有白光干涉儀和激光干涉儀。
4,、磁感應測厚儀:通過測量磁感應信號來確定薄膜或涂層的厚度,。
膜厚測量儀在工業(yè)生產、材料研發(fā),、電子設備制造等領域廣泛應用,,可幫助用戶準確測量和控制薄膜的厚度,確保產品質量和性能,。使用膜厚測量儀時,,需要根據實際情況選擇適合的儀器和測量方法,并注意儀器的操作規(guī)范和安全注意事項,。

Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo概述:

FR-pRo膜厚儀: 按需搭建的薄膜特性表征工具,。

FR-pRo膜厚儀是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備,用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層,。

FR-pRo膜厚儀是為客戶量身定制的,,并廣泛應用于各種不同的應用。

比如:

吸收率/透射率/反射率測量,,薄膜特性在溫度和環(huán)境控制下甚至在液體環(huán)境下的表征等等…

Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo應用:

1,、大學&研究實驗室

2、半導體行業(yè)

3,、高分子聚合物&阻抗表征

4,、電介質特性表征

5、生物醫(yī)學

6,、硬涂層,,陽極氧化,金屬零件加工

7,、光學鍍膜

8,、非金屬薄膜等等…

FR-pRo膜厚儀可由用戶按需選擇裝配模塊,核 心部件包括光源,,光譜儀(適用于 200nm-2500nm 內的任何光譜系統(tǒng))和控制單元,,電子通訊模塊。

此外,,還有各種各種配件,,比如:

1.用于測量吸收率/透射率和化學濃度的薄膜/試管架,;

2.用于表征涂層特性的薄膜厚度工具;

3.用于控制溫度或液體環(huán)境下測量的加熱裝置或液體試劑盒,;

4.漫反射和全反射積分球,。

通過不同模塊組合,蕞終的配置可以滿足任何終端用戶的需求,。

工作原理:

白光反射光譜(WLRS)是測量垂直于樣品表面的某一波段的入射光,,在經多層或單層薄膜反射后,經界面干涉產生的反射光譜可確定單層或多層薄膜(透明,,半透明或全反射襯底)的厚度及 N*K 光學常數,。

* 規(guī)格如有更改,恕不另行通知,;厚度測量范圍即代 表光譜范圍,,是基于在高反射襯底折射率為 1.5 的單層膜測量厚度。

Specificatins 規(guī)格:

Model

UV/Vis

UV/NIR -EXT

UV/NIR-HR

D UV/NIR

VIS/NIR

D Vis/NIR

NIR

光譜范圍  (nm)

200 – 850

200 –1020

200-1100

200 – 1700

370 –1020

370 – 1700

900 – 1700

像素

3648

3648

3648

3648 & 512

3648

3648 & 512

512

厚度范圍

1nm – 80um

3nm – 80um

1nm – 120um

1nm – 250um

12nm – 100um

12nm – 250um

50nm – 250um

測量n*k 最小范圍

50nm

50nm

50nm

50nm

100nm

100nm

500nm

準確度

1nm or 0.2%

1nm or 0.2%

1nm or 0.2%

1nm or 0.2%

1nm or 0.2%

2nm or 0.2%

3nm or 0.4%

精度

0.02nm

0.02nm

0.02nm

0.02nm

0.02nm

0.02nm

0.1nm

穩(wěn)定性

0.05nm

0.05nm

0.05nm

0.05nm

0.05nm

0.05nm

0.15nm

光源

氘燈 & 鎢鹵素燈(內置)

鎢鹵素燈(內置)

光斑 (直徑)

 

 

350um (更小光斑可根據要求選配)

 

 

材料數據庫

 

 

 

> 600 種不同材料

 

 

 


 




電腦

19 英寸屏幕的筆記本電腦/觸摸屏電腦

聚焦模塊

光學聚焦模塊安裝在反射探頭上,,光斑尺寸<100um

薄膜/比色皿容器

在標準器皿中對薄膜或液體的透射率測量

接觸式探頭

用于涂層厚度測量和光學測量的配件,,適用于彎曲表面和曲面樣品

顯微鏡

用于高橫向分辨率的反射率及厚度顯微測量

Scanner  (motorized)

帶有圓晶卡盤的Polar(R-Θ)或 Cartesian(X-Y)自動化樣品臺可選,Polar(R-Θ)樣品臺支持反射率測量,,Cartesian(X-Y)樣品臺支持反射率和透射率測量

積分球

用于表征涂層和表面的鏡面反射和漫反射

手動 X-Y 樣品臺

測量面積為 100mmx100mm 或 200mmx200mm 的x - y 手動平臺

加熱模塊

嵌入FR-tool 中,,范圍由室溫~200oC,通過FR-Monitor 運行可編程溫控器(0.1 oC 精度).

液體模塊

聚四氟乙烯容器,,用于通過石英光學窗口測量在液體中的樣品,。樣品夾具,

用于將樣品插入可處理 30mmx30mm 樣品的液體中

流通池

液體中吸光率,、微量熒光測量


 







 



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