COULOSCOPE CMS2 /CMS2 STEP庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀

庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線(xiàn)路板剩余純錫的厚度,。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽(yáng)極溶解的庫(kù)侖法,。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使該儀器成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法,。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅,，黃銅上鍍鎳）,以及各種電解速度,。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。菲希爾庫(kù)侖測(cè)厚儀CMS2 STEP的特征是STEP測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）,。 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試,。 鍍層厚度根據(jù)庫(kù)侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到,。

CMS2特征：

?    大尺寸高分辨率的彩色顯示器
?   簡(jiǎn)單的操作和圖示的用戶(hù)指導(dǎo)
?   使用V18支架實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)化測(cè)量
?   電解速度和測(cè)量面積的簡(jiǎn)單選擇
?    電壓曲線(xiàn)圖形顯示
?   圖形和統(tǒng)計(jì)分析
?   多語(yǔ)言和計(jì)量單位可供選擇

CMS2STEP特殊功能：

?   同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差
?   銀參比電極的簡(jiǎn)單準(zhǔn)備
?   可調(diào)節(jié)的電解電流

COULOSCOPE CMS2的應(yīng)用實(shí)例：電鍍緊固件,，測(cè)量PCB板上的剩余純錫厚度，鍍鉻件以及浴室用品

 GalvanoTest 3000/2000庫(kù)侖測(cè)厚儀

德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 3000,，應(yīng)用庫(kù)侖電量分析原理,。其過(guò)程類(lèi)似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反,，是電解除鍍?？梢杂糜跍y(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度,。基體包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料,。例如鐵上鑷,、鐵上鋅、銅上銀,、環(huán)氧樹(shù)脂上的銅等,。測(cè)量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬，而基體不受影響,。庫(kù)侖法確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確,、可靠，儀器使用簡(jiǎn)便,。測(cè)量操作由儀器的指令自主完成,，操作者不需要專(zhuān)業(yè)知識(shí)。GalvanoTest是一種根據(jù)庫(kù)侖原理測(cè)量涂層厚度的設(shè)備,，幾乎可用于所有電鍍的單層或多層涂層,。 可以在金屬或非金屬上測(cè)量鉻，鎳,，鎘,，銅，黃銅,，銀,，金，錫,，鋅等電鍍涂層,。測(cè)量范圍：50 nm-75 µm / 0.002-3 mils。

Galvano Test庫(kù)侖測(cè)厚儀有兩種型號(hào)：

     ,。GalvanoTest 2000：電解液通過(guò)氣泵移動(dòng)
     ,。GalvanoTest 3000：由循環(huán)泵移動(dòng)的大量電解液可實(shí)現(xiàn)快速連續(xù)測(cè)量。 適用于非常小的零件并測(cè)量金層,。

GALVANOTEST可以測(cè)量：

      ,。 可測(cè)實(shí)際應(yīng)用的所有鍍層
      。 利用庫(kù)侖電量分析原理,測(cè)量鍍層,、多層鍍層
      ,。 符合標(biāo)準(zhǔn): DIN EN ISO 2177
      。 可以測(cè)量70種以上鍍層/基體組合
      ,。 可以測(cè)量平面,、曲面上的鍍層
      。 可以測(cè)量小零件,、導(dǎo)線(xiàn),、線(xiàn)狀零件
      ,。 預(yù)置10種金屬的測(cè)量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳,、Cu銅,、黃銅、Zn鋅,、Ag銀,、Sn錫、Pb鉛,、Cd鎬,、Au金(需提供樣品確定}
      。 用戶(hù)可另設(shè)置8種金屬的測(cè)量參數(shù)