FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀

    FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合,。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量,。
兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器,。即使對于很小的測量點,，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率,，確保良好的重復(fù)精度,。
    XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細(xì)小的部件,，對低輻射組分有較好的激勵作用,。此外，XDLM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造激勵條件,。
    比較XUL和XULM儀器而言,，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設(shè)計為用戶友好的臺式機,，使用模塊化結(jié)構(gòu),，也就是說它們可以配備簡單支板,，各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。
    配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試,。它可以很方便地掃描表面,，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品,，當(dāng)測量門開啟時,，XY工作臺自動移動到加載位置，同時激光點指示測量點位置,。對于大而平整的樣品,，例如線路板，殼體在側(cè)面有開口（C形槽）,。由于測量室空間很大,，樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體,，也可以測量形狀復(fù)雜的大樣品（樣品高度可達(dá)140 mm）,。Z軸可電動調(diào)整的儀器，測量距離還可以在0 – 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,，這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體（DCM方法）,。

典型應(yīng)用領(lǐng)域

大批量電鍍件測量

防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻

電鍍行業(yè)槽液分析

線路板行業(yè)如薄金,，鉑和鎳鍍層的策略

測量接插件和觸點的鍍層

電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量

黃金,，珠寶和手表行業(yè)