ZK-HWS-1000LD 非標定制恒溫恒濕試驗箱
- 公司名稱 依諾檢測設(shè)備（東莞）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 ZK-HWS-1000LD
- 產(chǎn)地 廣東省東莞市橋頭鎮(zhèn)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2020/10/5 21:04:07
- 訪問次數(shù) 641
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濕熱試驗箱,，溫度循環(huán)試驗箱，冷熱循環(huán)試驗箱,，溫度沖擊試驗箱,，快速溫度變化試驗機，防爆型高低溫試驗箱,，溫度濕度低氣壓試驗箱,，步入式環(huán)境試驗箱，萬能材料拉力試驗機,，電動式高頻振動試驗臺,。
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 立式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
非標定制恒溫恒濕試驗箱用途
設(shè)備應(yīng)用在航空工業(yè)、國防研發(fā),、高校院所科研,、半導(dǎo)體材料芯片制備,、新能源動力電池模組、太陽能光伏制造,、電工電子元器件,、LED、儀器儀表及其它產(chǎn)品,、零部件及材料在高低溫交變溫濕環(huán)境下貯存運輸,、使用時的適應(yīng)性試驗；是各類材料和元器件進行耐寒,、耐熱,、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備,；特別適用于光纖,、LCD、晶體,、電感,、PCB、電池,、電腦,、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫,、耐溫濕交變循環(huán)試驗,。
非標定制恒溫恒濕試驗箱技術(shù)參數(shù)
1. 工作室容積：80L，120L,，150L,，225L，306L,，408L,，800L，1000L,。
2. 溫度范圍：0～+150℃,；-20～+150℃；-40～+150℃,；-60～+150℃,；-70～+150℃。
3. 濕度范圍：20%～98%R.H,。（選購：5%～98%R.H或10%～98%R.H,，溫濕度全程同步線性。）
4. 溫度波動度：±0.5℃,。
5. 濕度波動度：±1.0%R.H,。
6. 溫度均勻度：≦2.0℃,。
7. 濕度均勻度：±3.0%R.H。
8. 溫度/濕度偏差：≦±2.0℃/≦3.0%R.H,。
9.升溫速率：3℃～4℃/min,。（選購：5℃/min、10℃/min,、15℃/min,、20℃/min、25℃/min,，快速溫變線性或非線性機型,。）
10.降溫速率：0.7℃～1℃/min。（選購：5℃/min,、10℃/min,、15℃/min、20℃/min,、25℃/min,，快速溫變線性或非線性機型。）
11. 內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304#鏡面不銹鋼,。
12. 外箱材質(zhì)：優(yōu)質(zhì)寶鋼冷軋鋼板靜電噴塑防腐處理,。
13. 制冷系統(tǒng)：*壓縮機低噪音模塊化設(shè)計風(fēng)冷或水冷制冷機組。
14. 加熱系統(tǒng)：進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕,、耐熱、耐寒加熱管,，加熱空氣式控溫,。
15. 加濕系統(tǒng)：鈦合金護套式電加熱加濕器，均勻濕氣發(fā)生裝置,。
16. 節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷,，制冷不加熱），比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%,。
17. 制冷劑：R404a/R23,。
18. 制冷方式：機械單級制冷或二元復(fù)疊制冷。
19. 保護裝置：壓縮機過載,、過流,、超壓保護；漏電保護,；內(nèi)箱超溫保護,；加熱管空焚保護。
20. 標準配置：觀測窗一個,；LED視窗燈一支,；保險管2支,；物料架2套。
21. 電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%,。
22. 可編程恒溫恒濕試驗箱標準型號和規(guī)格選擇如下,，可按需求非標定制。
型 號 內(nèi)箱尺寸（mm） 外箱尺寸（mm）
ZK- HWS-80L W400×H500×D400 W1000×H1330×D850
ZK-HWS-120L W500×H600×D400 W1000×H1530×D850
ZK-HWS-150L W500×H600×D500 W1000×H1850×D950
ZK-HWS-225L W500×H750×D600 W1000×H1680×D1050
ZK-HWS-408L W600×H850×D800 W1100×H1780×D1250
ZK-HWS-800L W1000×H1000×D800 W1500×H1930×D1250
ZK-HWS-1000L W1000×H1000×D1000 W1500×H1930×D1450
可編程恒溫恒濕試驗箱參考標準
1.GJB150.3A-2009（MIL-STD-810D）高溫試驗,。
1.GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件,。
2.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件。
3.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則,。
4.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗,。
5.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。
6.GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗,。
7.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫,。
8.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫。
9.GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗,。
10.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱,。
11.GB/T 2423.22-2012（IEC68-2-14）試驗N：溫度變化試驗。
12.GB/T 2423.34-2012 （IEC68-2-38）試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗,。
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