日立SU9000超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡
- 公司名稱 柯岷國際貿(mào)易（上海）有限公司-C--2013.10儀器信息網(wǎng)客戶
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2020/8/12 15:36:25
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鎢燈絲電鏡（SEM） 場發(fā)射電鏡（SEM） 臺(tái)式電鏡（SEM） 聚焦離子束系統(tǒng)（FIB） 透射電子顯微鏡（TEM） 離子研磨機(jī) 離子濺射儀 便攜式顯微相機(jī)
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 場發(fā)射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè) |
日立SU9000超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡是專門為電子束敏感樣品和需大300萬倍穩(wěn)定觀察的*半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì),。
新的電子槍和電子光學(xué)設(shè)計(jì)提高了低加速電壓性能,。
0.4nm / 30kV（SE）
1.2nm / 1kV（SE）
0.34nm / 30kV（STEM）
用改良的高真空性能和的電子束穩(wěn)定性來實(shí)現(xiàn)高效率截面觀察。
日立SU9000超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡采用全新設(shè)計(jì)的Super E x B能量過濾技術(shù),，高效,，靈活地收集SE / BSE/ STEM信號(hào)。
低加速電壓觀察時(shí)分辨率更高,，可更好地觀察樣品表面的細(xì)微形狀和更有效地降低樣品的損壞
全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和信號(hào)處理技術(shù)實(shí)現(xiàn)了高速掃描和低噪音的觀察
和以前的常規(guī)掃描電子顯微鏡相比＊2，自動(dòng)功能縮短＊3了大約11秒
具有在低真空時(shí)可以非常好地觀察樣品表面的細(xì)微形狀的“UVD（超高靈敏度可變壓力探測器）”＊4
具有實(shí)現(xiàn)了實(shí)時(shí)立體成像的“實(shí)時(shí)立體觀察功能”＊4
（*2）：和日立SEM S-3400N相比
（*3）：根據(jù)觀察條件的不同,，時(shí)間會(huì)有變動(dòng)
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