薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

漏導(dǎo)損耗

實(shí)際使用中的絕緣材料都不是完善的理想的電介質(zhì),，在外電場(chǎng)的作用下,，總有一些帶電粒子會(huì)發(fā)生移動(dòng)而引起微弱的電流，這種微小電流稱(chēng)為漏導(dǎo)電流,，漏導(dǎo)電流流經(jīng)介質(zhì)時(shí)使介質(zhì)發(fā)熱而損耗了電能,。這種因電導(dǎo)而引起的介質(zhì)損耗稱(chēng)為“漏導(dǎo)損耗”。由于實(shí)阿的電介質(zhì)總存在一些缺陷,，或多或少存在一些帶電粒子或空位,，因此介質(zhì)不論在直流電場(chǎng)或交變電場(chǎng)作用下都會(huì)發(fā)生漏導(dǎo)損耗。

薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

陶瓷材料的損耗

陶瓷材料的介質(zhì)損耗主要來(lái)源于電導(dǎo)損耗,、松弛質(zhì)點(diǎn)的極化損耗和結(jié)構(gòu)損耗,。此外，表面氣孔吸附水分,、油污及灰塵等造成的表面電導(dǎo)也會(huì)引起較大的損耗,。

在結(jié)構(gòu)緊密的陶瓷中，介質(zhì)損耗主要來(lái)源于玻璃相,。為了改善某些陶瓷的工藝性能,，往往在配方中引人此易熔物質(zhì)（如黏土），形成玻璃相,，這樣就使損耗增大,。如滑石瓷、尖晶石瓷隨黏土含量增大,，介質(zhì)損耗也增大,。因面一般高頻瓷,，如氧化鋁瓷、金紅石等很少含有玻璃相,。大多數(shù)電陶瓷的離子松弛極化損耗較大,，主要的原因是：主晶相結(jié)構(gòu)松散，生成了缺固濟(jì)體,、多品型轉(zhuǎn)變等,。

邊緣效應(yīng)

 為了避免邊緣效應(yīng)引起電容率的測(cè)量誤差，電極系統(tǒng)可加上保護(hù)電極,。保護(hù)電極的寬度應(yīng)至少為兩倍的試樣厚度,，保護(hù)電極和主電極之間的間隙應(yīng)比試樣厚度小。假如不能用保護(hù)環(huán),，通常需對(duì)邊緣電容進(jìn)行修正,，表 工給出了近似計(jì)算公式 這些公式是經(jīng)驗(yàn)公式，只適用于規(guī)定的幾種特定的試樣形狀,。

 此外,，在一個(gè)合適的頻率和溫度下，邊緣電容可采用有保護(hù)環(huán)和無(wú)保護(hù)環(huán)的(比較))測(cè)量來(lái)獲得,，用所得到的邊緣電容修正其他頻率和溫度下的電容也可滿(mǎn)足精度要求,。

試驗(yàn)報(bào)告

 試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出下列相關(guān)內(nèi)容:

 絕緣材料的型號(hào)名稱(chēng)及種類(lèi)、供貨形式,、取樣方法、試樣的形狀及尺寸和取樣 日期(并注明試樣厚度和試樣在與電極接觸的表面進(jìn)行處理的情況);

 試樣條件處理的方法和處理時(shí)間;

 電極裝置類(lèi)型,，若有加在試樣上的電極應(yīng)注明其類(lèi)型;

 測(cè)量?jī)x器;

 試驗(yàn)時(shí)的溫度和相對(duì)濕度以及試樣的溫度;

 施加的電壓;

 施加的頻率;

 相對(duì)電容率ε(平均值);

 介質(zhì)損耗因數(shù) tans(平均值);

 試驗(yàn) 日期 ;

 相對(duì)電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)值以及由它們計(jì)算得到的值如損耗指數(shù)和損耗角,，必要時(shí)，應(yīng)給出與溫度和頻率的關(guān)系,。

技術(shù)參數(shù)：

1．Q值測(cè)量

a．Q值測(cè)量范圍：2～1023,。

b．Q值量程分檔：30、100,、300,、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔,。

c．標(biāo)稱(chēng)誤差

     頻率范圍（100kHz～10MHz）： 頻率范圍（10MHz～160MHz）：

     固有誤差：≤5％±滿(mǎn)度值的2% 固有誤差：≤6％±滿(mǎn)度值的2%

     工作誤差：≤7％±滿(mǎn)度值的2% 工作誤差：≤8％±滿(mǎn)度值的2%

2．電感測(cè)量范圍：4.5nH~7.9mH

3．電容測(cè)量：1~205

     主電容調(diào)節(jié)范圍：18～220pF

     準(zhǔn)確度：150pF以下±1.5pF,； 150pF以上±1%

     注：大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見(jiàn)后頁(yè)使用說(shuō)明

4.  信號(hào)源頻率覆蓋范圍

     頻率范圍CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,

     CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,

5．Q合格指示預(yù)置功能:      預(yù)置范圍：5～1000。

6．B-測(cè)試儀正常工作條件

a.  環(huán)境溫度：0℃～+40℃,；

b．相對(duì)濕度：<80％,；

c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz,。

7．其他

a．消耗功率：約25W,；

b．凈重：約7kg,；

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

電介質(zhì)的用途

 電介質(zhì)一般被用在兩個(gè)不同的方面:

 用作電氣回路元件的支撐,，并且使元件對(duì)地絕緣及元件之間相互絕緣;

 用作電容器介質(zhì)

特點(diǎn)：

作為 一代的通用,、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi) 高的160MHz,。

1 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能,。

2 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入,。

3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧,。

4 自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值,、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容,、電感,、 Q 值、信號(hào)源頻率,、諧振指針,。

6 DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高,、幅度的高穩(wěn)定,。

7 計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路 優(yōu)化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至 低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑,。

新購(gòu)儀器的檢查

新購(gòu)的儀器 好能先用LKI-1電感組,，將各個(gè)電感在各個(gè)不同頻率測(cè)試Q值，把測(cè)試的情況,，例使用的電感號(hào),、測(cè)試頻率Q讀數(shù)、電容讀數(shù)等多次測(cè)得數(shù)及測(cè)試環(huán)境條件逐一詳細(xì)記錄,，并把記錄保存起來(lái),，以供以后維修時(shí)作參考。

LKI-1電感組是測(cè)試時(shí)作輔助電感用的,，不能把這些電感當(dāng)作高精度的標(biāo)準(zhǔn)電感看待,。隨著測(cè)試環(huán)境條件不同，測(cè)得電感器Q值和分布電容可能略有不同,。